[发明专利]用于获取被检体信息的装置和处理方法在审
申请号: | 201610958232.7 | 申请日: | 2016-10-28 |
公开(公告)号: | CN106618489A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 末平信人;宫里卓郎 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 宿小猛 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 获取 被检体 信息 装置 处理 方法 | ||
技术领域
本发明涉及用于获取被检体信息的装置和处理方法。
背景技术
近年来,作为光学成像技术中的一种,已经提出了光声层析成像。利用光声层析成像的装置在被检查物上照射脉冲光并且在该检查体中传播和扩散脉冲光。该装置检测从吸收了光能量(光声波)的吸收体产生的声波并且执行信号处理。以这种方式,该装置可获取与该被检查物内的光学特性值有关的特性信息并然后将其成像。
为了根据光声波计算作为该被检查物内的光学特性的吸收系数分布,需要计算照射在吸收体上的光的量的分布。但是,由于引入到该被检查物中的光被吸收并且扩散,因此难以估计照射在吸收体上的光的量。因此,在光声层析成像中存在通过将吸收系数分布乘以光量获得的光能量吸收密度分布被成像的情况。
日本专利申请公开No.2009-018153公开了这样一种方法,即,通过每当关于单个吸收体改变光照射位置时测量声压,计算介质的有效衰减系数,并且利用有效衰减系数以获得被检查物的光量分布;然后,通过将光能量吸收密度分布除以光量分布,获得吸收系数分布。
专利文献1:日本专利申请公开No.2009-018153
发明内容
在光声层析成像中,获取特性信息需要用于光量分布的计算的值,例如,有效衰减系数,并且存在对使得能够更令人满意地获取这些值的方法的需求。
鉴于这些问题,设计了本发明。本发明的一个目的是,在光声层析成像中令人满意地获取计算被检体内部的光量分布所需要的值。
本发明提供一种用于获取被检体信息的装置,该装置包括:
信息获取单元,被配置为通过使用从元件输出的电信号来获取与被检体内部有关的特性信息,所述元件接收在被检体被光照射时产生的声波并且输出电信号,其中,
信息获取单元被配置为:
产生与被检体内部的初始声压分布对应的强度分布数据,
根据包含于强度分布数据中的值获取与被检体内部的光的传播距离对应的多个表示值,和
基于所述多个表示值获取被检体内部的有效衰减系数。
本发明还提供一种处理方法,用于使用通过接收当在被检体上照射光时产生的声波获取的电信号来获取与被检体内部有关的特性信息,该处理方法包括:
产生与被检体内部的初始声压分布对应的强度分布数据;
根据包含于强度分布数据中的值获取与被检体内部的光的传播距离对应的多个表示值;和
基于所述多个表示值获取被检体内部的有效衰减系数。
根据本发明,能够在光声层析成像中令人满意地获取计算被检体内部的光量分布所需要的值。
根据以下参照附图对示例性实施例的描述,本发明的其它特征将变得清晰。
附图说明
图1A~1C是用于解释第一实施例中的原理的示图;
图2A和图2B是第一实施例中的光声装置的示图;
图3是用于解释第一实施例中的光衰减计算方法的流程图;
图4A和图4B是用于解释第一实施例中的投影图像创建的示图;以及
图5A和图5B是第二实施例中的光声装置的示图。
具体实施方式
以下参照附图解释本发明的优选实施例。但是,以下描述的部件的尺寸、材料、形状和相对布置等应根据应用本发明的装置的配置和各种条件适当地改变,并且不意味着将本发明的范围限于以下解释的描述。
本发明涉及用于检测从被检体传播的声波并且产生并获取与被检体的内部有关的特性信息的技术。因此,本发明作为被检体信息获取装置或其控制方法或者被检体信息获取方法或者信号处理方法被掌握。本发明还作为用于导致包含诸如CPU和存储器的硬件资源的信息处理装置执行方法的计算机程序和其中存储有计算机程序的存储介质被掌握。
本发明的被检体信息获取装置包括如下的装置,该装置在被检体上照射光(电磁波)以由此接收在被检体中产生的声波并且获取被检体的特性信息作为图像数据并且利用光声效应。在这种情况下,特性信息是使用通过接收光声波获得的接收信号产生的、并且分别与被检体中的多个位置对应的关于特性值的信息。注意,在本发明中,有效衰减特性也包含于特性信息中。
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