[发明专利]用于获取被检体信息的装置和处理方法

权利要求书

1.一种用于获取被检体信息的装置，其特征在于，所述装置包括：

信息获取单元，被配置为通过使用从元件输出的电信号来获取与被检体内部有关的特性信息，该元件接收在被检体被光照射时产生的声波并且输出电信号，其中，

所述信息获取单元被配置为：

产生与被检体内部的初始声压分布对应的强度分布数据，

根据包含于强度分布数据中的值来获取与被检体内部的光的传播距离对应的多个表示值，以及

基于所述多个表示值获取被检体内部的有效衰减系数。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为使用被检体内部的能量吸收密度分布或初始声压分布作为强度分布数据。

3.根据权利要求2所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为产生二维强度分布数据并且根据二维强度分布数据获取表示值。

4.根据权利要求2所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为产生三维强度分布数据，通过使用三维强度分布数据的最大值投影产生二维强度分布数据，并且根据二维强度分布数据获取表示值。

5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为在被检体内部的光的传播距离中的每一个中比较包含于强度分布数据中的值并且选择最大值，以由此获取所述多个表示值。

6.根据权利要求5所述的装置，其中，光以面形状照射在被检体上，并且光的传播距离被表示为距被检体的表面的深度。

7.根据权利要求5所述的装置，其中，强度分布数据是二维强度分布数据，在所述二维强度分布数据中以点状指示使得光入射在被检体上的位置，并且光的传播距离被表示为距使得光入射的所述位置的距离。

8.根据权利要求1所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为基于所述多个表示值来创建表示被检体内部的衰减特性的衰减特性计算函数，以获取有效衰减系数。

9.根据权利要求8所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为基于所述多个表示值与传播距离之间的关系来创建衰减特性计算函数。

10.根据权利要求9所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为基于指示光量在光在被检体内传播时指数衰减的函数来创建衰减特性计算函数。

11.根据权利要求1所述的装置，其中，

被检体包含多个吸收体，以及

所述信息获取单元被配置为通过使用强度分布数据中的从所述多个吸收体得到的值来获取表示值。

12.根据权利要求1所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为：

通过使用照射在被检体上的光的光量和有效衰减系数来获取被检体中的光量分布，以及

通过使用光量分布和所述电信号来获取被检体内部的光学特性信息分布。

13.根据权利要求12所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为通过使用用于产生强度分布数据的电信号来获取光学特性信息分布。

14.根据权利要求12所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为通过使用与用于产生强度分布数据的电信号不同的电信号来获取光学特性信息分布。

15.根据权利要求1所述的装置，还包括被配置为存储有效衰减系数的存储器。

16.根据权利要求1～15中的任一项所述的装置，其中，所述信息获取单元被配置为通过使用超声波衰减特性来产生强度分布数据，所述超声波衰减特性是通过向被检体内部发射超声波以及从被检体内部接收超声波而获得的。

17.根据权利要求16所述的装置，其中，所述元件还用于发射和接收超声波以用于获取超声波衰减特性。

18.根据权利要求16所述的装置，还包括超声波探测器，所述超声波探测器被配置为向被检体内部发射超声波以及从被检体内部接收超声波。