[发明专利]一种惯导系统故障特性判定及测试性预计方法有效

专利信息
申请号: 201610896282.7 申请日: 2016-10-14
公开(公告)号: CN107957269B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 孙伟;李海军;徐海刚;李群;刘冲;裴玉锋;郭元江;原润;钟润伍 申请(专利权)人: 北京自动化控制设备研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高安娜
地址: 100074 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 系统故障 特性 判定 测试 预计 方法
【权利要求书】:

1.一种惯导系统故障特性判定方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

1)获取惯导系统的组成单元信息集、信号信息集、组成单元故障信息集、测试点信息集和测试行为信息集,形成测试性多信号信息模型;

其中:

组成单元信息集为惯导系统的组成模块信息的集合;

信号信息集为惯导系统内部能够检测到的信号信息的集合;

组成单元故障信息集为惯导系统的各组成模块发生完全故障和功能故障的信息的集合;

测试点信息集为惯导系统内部能够进行检测的位置点信息的集合;

测试信息集为在测试点对信号信息进行检测的行为的集合;

2)搜索故障可达测试点

从故障ci(F)或ci(G)所在组元ci出发,沿输出方向按广度优先搜索遍历模型图,凡是能够达到的测试点节点,即为该故障可达测试点;

其中,ci(F)表示第i个惯性导航系统组成单元发生功能故障、ci(G)表示第i个惯性导航系统组成单元发生完全故障;

如存在信号阻断,则中止该分支上的搜索;如存在信号映射,则将映射后的信号添加到组元作用信号集SC(ci),继续搜索,组元作用信号集SC(ci)包括第i个惯性导航系统组成单元作用的信号si的合集:{s1、s2…}

3)进行故障相关性分析,确定故障-测试相关矩阵Dm×n

利用下式得到故障-测试相关矩阵Dm×n中的元素

其中:m为惯导系统可能发生故障的单元,即组成单元中的个数;

n为惯导系统中的测试点的个数;

ST(tj)表示在第i个测试点能够检测到的信号si的合集:{s1、s2…}

利用下式确定故障-测试相关矩阵;

4)进行故障特性判定

单故障特性判定包括未检测故障、模糊组和冗余测试;

如果故障-测试相关矩阵Dm×n中存在全为0的行,则该行所对应的故障即为未检测故障;

比较故障-测试相关矩阵Dm×n中各行,如果有Fi=Fj,i≠j,则对应的故障是不可区分的,可作为一个模糊组处理,并合并为一行,Fi表示第i个行向量,Fj表示第j个行向量;

比较相关矩阵Dm×n中各列,如果有Ti=Tj,i≠j,则对应的测试是互为冗余测试,Ti表示第i个列向量;

多故障特性判定包括故障隐藏和故障冒充;

若存在Fi+Fj=Fk,k=i或k=j,则说明存在故障隐藏;

若存在Fi+Fj=Fk,i≠j≠k,则说明存在故障冒充。

2.一种惯导系统故障特性测试性预计方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

1)获取惯导系统的组成单元信息集、信号信息集、组成单元故障信息集、测试点信息集和测试行为信息集,形成测试性多信号信息模型;

其中:

组成单元信息集为惯导系统的组成模块信息的集合;

信号信息集为惯导系统内部能够检测到的信号信息的集合;

组成单元故障信息集为惯导系统的各组成模块发生完全故障和功能故障的信息的集合;

测试点信息集为惯导系统内部能够进行检测的位置点信息的集合;

测试信息集为在测试点对信号信息进行检测的行为的集合;

2)搜索故障可达测试点

从故障ci(F)或ci(G)所在组元ci出发,沿输出方向按广度优先搜索遍历模型图,凡是能够达到的测试点节点,即为该故障可达测试点;

其中,ci(F)表示第i个惯性导航系统组成单元发生功能故障、ci(G)表示第i个惯性导航系统组成单元发生完全故障;

如存在信号阻断,则中止该分支上的搜索;如存在信号映射,则将映射后的信号添加到组元作用信号集SC(ci),继续搜索,组元作用信号集SC(ci)包括第i个惯性导航系统组成单元作用的信号si的合集:{s1、s2…}

3)进行故障相关性分析,确定故障-测试相关矩阵Dm×n

利用下式得到故障-测试相关矩阵Dm×n中的元素

其中:m为惯导系统可能发生故障的单元,即组成单元中的个数;

n为惯导系统中的测试点的个数;

ST(tj)表示在第i个测试点能够检测到的信号si的合集:{s1、s2…}

利用下式确定故障-测试相关矩阵;

4)确定故障检测率FDR和故障隔离率FIR

其中,λ为相关矩阵中所有故障的总故障概率,λD为相关矩阵中可检测故障的总故障率,λi为相关矩阵中第i个故障的故障概率,λDi为第i个被检测出故障的故障概率,λL为相关矩阵中可隔离到小于等于L个可更换单元的故障的故障概率之和,λLi为相关矩阵中可隔离到小于等于L个可更换单元的故障中第i个故障的故障概率,L为规定的模糊度,即检测到故障时,能够隔离到的最小可更换单元的个数。

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