[发明专利]显示装置的检测电路及方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示装置的检测电路及方法。

背景技术

在显示装置出厂前，需要对该显示装置进行面板测试(英文：Cell Test；简称：CT)以提高产品良率。

相关技术中，对于芯片固定于玻璃基板(英文：chip on Glass；简称：COG)类型的显示装置，参考图1，该COG显示装置通常采用Z反转型(Z-Inversion)的驱动方式，也即是，显示装置中各行像素单元中的薄膜晶体管(英文：Thin Film Transistor；简称：TFT)呈Z字形排布，该显示装置中每条数据线通过该TFT交替连接该条数据线两侧的像素电极，例如图1中，数据线01分别与左侧的处于奇数行的红色像素单元中的像素电极，以及右侧的处于偶数行的绿色像素单元中的像素电极连接。

对该类型的显示装置进行检测时，可以将该显示装置分别与栅极驱动电路和源极驱动电路连接，其中源极驱动电路可以包括三个数据信号端：DC、DY和DM，该三个数据信号端分别与三条相邻的数据线一一对应连接，从而可以为不同颜色的像素单元提供数据信号。例如，在图1所示的电路图中，数据信号端DM能够通过数据线为奇数行的蓝色像素单元和偶数行的红色像素单元提供数据信号，数据信号端DY能够通过数据线为奇数行的红色像素单元和偶数行的绿色像素单元提供数据信号。因此在对显示装置中红色像素单元进行检测时，可以使栅极驱动电路对该显示装置中的各行像素单元进行逐行驱动，同时使该源极驱动电路中的数据信号端DY和DM交替输出方波信号，数据信号端DC则输出低电平信号，并且当该栅极驱动电路扫描到奇数行的像素单元时，数据信号端DY输出的方波信号处于高电平，DM输出的方波信号处于低电平，当该栅极驱动电路扫描到偶数行的像素单元时，数据信号端DY输出的方波信号处于低电平，DM输出的方波信号处于高电平，由此可以使得该显示装置中仅有红色像素单元被点亮，以便对该红色像素单元的显示性能进行检测。

但是，采用上述方法进行检测时，需要保证数据信号端输出的方波信号的周期与该栅极驱动电路对每行像素单元的驱动周期精准同步，当数据信号端输出的方波信号存在延迟时，可能导致显示装置中待检测的像素单元无法点亮，该检测方法的稳定性较差。

发明内容

为了解决相关技术中的检测方法稳定性较差的问题，本发明提供了一种显示装置的检测电路及方法。所述技术方案如下：

一方面，提供了一种显示装置的检测电路，所述显示装置包括多条数据线和多条栅线，所述多条数据线与所述多条栅线交叉围成多个阵列排布的像素单元，所述检测电路包括：源极驱动电路和栅极驱动电路；

所述源极驱动电路与所述多条数据线连接，用于为所述显示装置中的各个像素单元提供数据信号，所述栅极驱动电路与所述多条栅线连接，用于为所述显示装置中的各个像素单元提供栅极驱动信号；

其中，所述栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存器单元，每个移位寄存器单元用于驱动一行像素单元，且所述多个级联的移位寄存器单元中，第1个移位寄存器单元和第2个移位寄存器单元的输入端分别与帧开启信号端连接，第n个移位寄存器单元的输出端与第n+2个移位寄存器单元的输入端连接，第n+2个移位寄存器单元的输出端与第n个移位寄存器单元的复位信号端连接，n为大于或等于1的整数；

所述栅极驱动电路能够对所述显示装置中奇数行的像素单元进行逐行驱动，或者对所述显示装置中偶数行的像素单元进行逐行驱动。

可选的，所述显示装置中的每个像素单元包括一个薄膜晶体管TFT和一个像素电极，各行所述像素单元中的TFT呈Z字形排列，所述多条数据线中的每条数据线通过TTF分别与两侧的像素电极连接；

所述源极驱动电路包括开关模块，所述开关模块分别与开关信号端、N个数据信号端以及所述多条数据线连接，其中N为所述显示装置中每个像素所包括的不同颜色的像素单元的个数；

所述开关模块用于将所述N个数据信号端与所述多条数据线对应相连，使得每个数据信号端能够分别为处于奇数行的第一颜色的像素单元，以及处于偶数行的第二颜色的像素单元提供数据信号。

可选的，所述栅极驱动电路中，第4n-3个移位寄存器单元中的输出模块与第一时钟信号端连接，第4n-2个移位寄存器单元中的输出模块与第二时钟信号端连接；第4n-1个移位寄存器单元中的输出模块与第三时钟信号端连接；第4n个移位寄存器单元中的输出模块与第四时钟信号端连接。

可选的，所述帧开启信号端包括第一信号端和第二信号端；