[发明专利]一种激光干涉仪的光路调校装置和调校方法

说明书

本发明公开了一种激光干涉仪的光路调校装置，包括测试光路和成像光路，测试光路中激光器S1发出的激光通过空间滤波器Q1，再经过偏振分光棱镜P1转折90度后通过其上方的1/4波片P3，再经过95/5分光镜P2转折90度后通过准直物镜Q2到达平面镜M4；成像光路包括平面镜M4，所平面镜M4位于测试光路中准直物镜Q2水平方向激光入射的另一侧，被反射回的激光沿水平返回，经过95/5分光镜P2转折90度后通过1/4波片P3，再经过所述偏振分光棱镜P1，然后通过反射镜M1和反射镜M2转折经过中继镜Q3，再经过反射镜M3转折到变焦镜头Q4，最终干涉激光成像在CCD相机S2上。

技术领域

本发明涉及一种激光干涉仪的光路调校装置，还涉及上述调校装置的调校方法，属于光学精密测量领域。

背景技术

激光干涉仪是高精度测量仪器，为达到仪器的技术指标，除了元器件质量保证以外，在装配过程中对光轴的调校也很重要。

发明内容

发明目的：本发明所要解决的技术问题是提供一种激光干涉仪的光路调校装置，该装置使调校后的激光干涉仪输出均匀的平行光，成像清晰。

本发明还要解决的技术问题是提供上述激光干涉仪光路调校装置的调校方法。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案为：

一种激光干涉仪的光路调校装置，包括测试光路和成像光路，所述测试光路为激光器S1发出的激光通过空间滤波器Q1，再经过偏振分光棱镜P1转折90度后穿过1/4波片P3，再经过95/5分光镜P2转折90度后通过准直物镜Q2到达平面镜M4；

所述成像光路为被平面镜M4反射的激光，平面镜M4位于测试光路中准直物镜Q2水平方向激光入射的另一侧，被反射的激光沿水平返回，穿过准直物镜Q2后经过95/5分光镜P2转折90度，再穿过1/4波片P3、偏振分光棱镜P1，通过反射镜M1和反射镜M2转折后穿过中继镜Q3，再经过反射镜M3转折到变焦镜头Q4，最终到达CCD相机S2上成像；

在平面镜M4反射面的反面水平光路处放置剪切板W1和角锥棱镜W2；在空间滤波器Q1和偏振分光棱镜P1之间的水平轴线上设置小孔光栏F1；在95/5分光镜P2和准直物镜Q2之间的水平轴线上分别设置小孔光栏F5和小孔光栏F6；在95/5分光镜P2和1/4波片P3之间的垂直光路上设置小孔光栏F3；在反射镜M1垂直入射光路后方设置小孔光栏F8；在95/5分光镜P2水平透射光路的后方设置小孔光栏F7；在反射镜M1反射的水平光路后端设置小孔光栏F9；在反射镜M2的上端垂直反射光路上设置小孔光栏F10；在反射镜M3左侧水平反射光路上设置小孔光栏F12。

其中，所述激光器为氦氖激光器。

上述激光干涉仪光路调校装置的调校方法，包括如下步骤：

步骤1，在平面镜M4反射面的反面水平光路处放置剪切板W1和角锥棱镜W2，在空间滤波器Q1和偏振分光棱镜P1之间的水平轴线上设置小孔光栏F1，调整激光器S1和偏振分光棱镜P1，使细光束通过小孔光栏F1后，取走小孔光栏F1；

步骤2，在95/5分光镜P2和准直物镜Q2之间的水平轴线上分别设置小孔光栏F5和小孔光栏F6，调整95/5分光镜P2，使细光束通过分别小孔光栏F5和小孔光栏F6后，取走小孔光栏F5和小孔光栏F6；

步骤3，分别在95/5分光镜P2和1/4波片P3之间的垂直光路上、反射镜M1垂直入射光路后方以及95/5分光镜P2水平透射光路的后方设置小孔光栏F3、小孔光栏F7和小孔光栏F8，调整角锥棱镜W2使细光束返回后通过小孔光栏F3、小孔光栏F7和小孔光栏F8，取走小孔光栏F3；

步骤4，在反射镜M1反射的水平光路后端设置F9，调整反射镜M1，使光通过小孔光栏F9；