[发明专利]热收缩带的红外热成像检测方法及装置

权利要求书

1.一种热收缩带的红外热成像检测方法，其特征在于，包括：

获取热收缩带在电磁激励源激励后的表面热像图；

根据所述表面热像图获取所述热收缩带表面的温度；

根据所述温度确定所述热收缩带的缺陷信息；其中，所述缺陷信息包括：所述热收缩带表面的缺陷区域的面积，所述缺陷区域的位置以及所述缺陷区域的缺陷程度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取热收缩带在电磁激励源激励后的表面热像图，包括：

通过红外热成像设备获取所述表面热像图。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述温度确定所述热收缩带的缺陷信息，包括：

若所述热收缩带表面的温度具有大于预设阈值的温度差，则确定温度较低的表面区域为所述缺陷区域；

确定温度较低的表面区域的位置为所述缺陷区域的位置，确定温度较低的表面区域的面积为所述缺陷区域的面积；

根据所述温度差确定所述缺陷程度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述温度差确定所述缺陷程度，包括：

若所述温度差越大，则确定所述缺陷区域的缺陷程度越强。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在获取热收缩带在电磁激励源激励后的表面热像图之前，所述方法还包括：

将所述电磁激励源设置在距离所述热收缩带的外表面预设距离的位置处，或者，

将所述电磁激励源设置在所述热收缩带粘接的管道的内侧。

6.一种热收缩带的红外热成像检测装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取热收缩带在电磁激励源激励后的表面热像图；

第二获取模块，用于根据所述表面热像图获取所述热收缩带表面的温度；

确定模块，用于根据所述温度确定所述热收缩带的缺陷信息；其中，所述缺陷信息包括：所述热收缩带表面的缺陷区域的面积，所述缺陷区域的位置以及所述缺陷区域的缺陷程度。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一获取模块具体用于：通过红外热成像设备获取所述表面热像图。

8.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述确定模块包括：

第一确定子模块，用于当所述热收缩带表面的温度具有大于预设阈值的温度差时，确定温度较低的表面区域为所述缺陷区域；

第二确定子模块，用于确定温度较低的表面区域的位置为所述缺陷区域的位置，确定温度较低的表面区域的面积为所述缺陷区域的面积；

第三确定子模块，用于根据所述温度差确定所述缺陷程度。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第三确定子模块具体用于：

若所述温度差越大，则确定所述缺陷区域的缺陷程度越强。

10.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

设置模块，用于将所述电磁激励源设置在距离所述热收缩带的外表面预设距离的位置处，或者，

用于将所述电磁激励源设置在所述热收缩带粘接的管道的内侧。