[发明专利]离子束抛光离子源坐标位置标校系统和标校方法在审
| 申请号： | 201610705733.4 | 申请日： | 2016-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN106217175A | 公开（公告）日： | 2016-12-14 |
| 发明（设计）人： | 邓翔宇 | 申请（专利权）人： | 成都森蓝光学仪器有限公司 |
| 主分类号： | B24B13/00 | 分类号： | B24B13/00;B24B49/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 离子束 抛光 离子源 坐标 位置 系统 校方 | ||
【权利要求书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都森蓝光学仪器有限公司，未经成都森蓝光学仪器有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610705733.4/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种货车制动系统用密封圈的自动修边机
- 下一篇：一种汽车座椅滑轨定点打磨装置
