[发明专利]具有侧壁保护重布层中介层的半导体封装及其制造方法有效
| 申请号: | 201610649629.8 | 申请日: | 2016-08-10 |
| 公开(公告)号: | CN107195594B | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
| 发明(设计)人: | 施信益;吴铁将 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
| 主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L21/56 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 宋献涛 |
| 地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 侧壁 保护 重布层 中介 半导体 封装 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体封装,包含:
一个重布层RDL中介层,具有第一面、与所述第一面相对的第二面,及延伸于所述第一面与所述第二面之间的垂直侧壁;
一个钝化层,位于所述RDL中介层的所述第一面上;
至少一个半导体晶粒,设在所述RDL中介层的所述第一面上,位于所述钝化层的上方,其中所述至少一个半导体晶粒的侧面与所述RDL中介层的所述垂直侧壁不是共面的;
一个模塑料,具有与所述至少一个半导体晶粒的所述侧面以及所述RDL中介层的所述垂直侧壁平行的垂直外部侧壁,所述模塑料与所述至少一个半导体晶粒的所述侧面以及所述RDL中介层的所述垂直侧壁的全部直接接触;以及
多个焊锡凸块或焊锡球设在所述第二面上并与所述RDL中介层电气接触。
2.根据权利要求1所述的半导体封装,其中所述模塑料保留与所述RDL中介层的所述第一面相对的所述至少一个半导体晶粒的表面暴露。
3.根据权利要求1所述的半导体封装,其中所述RDL中介层包含一个RDL,所述RDL包含至少一个介电层及至少一个金属层。
4.根据权利要求3所述的半导体封装,其中所述至少一个介电层包含聚亚酰胺、氮化硅或氧化硅。
5.根据权利要求3所述的半导体封装,其中所述至少一个金属层包含铝、铜、钨、钛或氮化钛。
6.根据权利要求3所述的半导体封装,其中所述RDL中介层进一步包含设于所述RDL中介层的所述第二面上的另一个钝化层,且所述模塑料与所述另一个钝化层的侧面接触。
7.根据权利要求6所述的半导体封装,其中所述模塑料具有一个表面,所述表面与所述另一个钝化层的一个表面齐平且面对所述RDL中介层。
8.根据权利要求6所述的半导体封装,其中在所述RDL中介层的所述第二面上设有一个防焊层,且所述防焊层的一个表面面对所述RDL中介层的所述第二面并与所述模塑料邻近接触。
9.根据权利要求1所述的半导体封装,其中所述至少一个半导体晶粒与所述RDL中介层通过延伸穿过所述钝化层中的开口的导电凸块电气连接。
10.根据权利要求9所述的半导体封装,其中所述导电凸块包含铜或焊锡。
11.根据权利要求1所述的半导体封装,其中所述至少一个半导体晶粒包含绘图处理器GPU、中央处理器CPU或内存芯片中的至少一者。
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