[发明专利]缺陷显示方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610640366.4 申请日: 2016-08-05
公开(公告)号: CN107688527B 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 李韧;闫浩;谢丽 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 罗振安
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 显示 方法 装置
【说明书】:

发明提供了一种缺陷显示方法及装置,涉及计算机技术领域,该方法包括:根据代码中的待显示缺陷的标识信息和预设的缺陷的标识信息与属性信息的对应关系,确定待显示缺陷的属性信息,该属性信息包括该待显示缺陷的缺陷级别和待显示缺陷的修复耗时中至少一项,修复耗时用于指示对待显示缺陷进行修复的耗时,缺陷级别用于指示待显示缺陷的严重程度;根据待显示缺陷的属性信息,确定用于指示该待显示缺陷的属性信息的图形;显示待显示缺陷对应的图形,解决了用户无法确定出缺陷的严重程度或修复缺陷的耗时,从而无法根据缺陷的严重程度或修复缺陷的耗时确定出需要优先修复哪些缺陷,导致的缺陷的修复效果较差的问题,提高了缺陷的修复效果。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域,特别涉及一种缺陷显示方法及装置。

背景技术

用户编写出代码后,可以利用代码检查工具对该代码进行检查,如PMD、Checkstyle、Findbugs、JDepend、hp fortify、sonarqube等。在代码检查工具检查出缺陷(bug)后,需要显示检查出的缺陷。

终端在显示检查出的缺陷时,通常会显示每个缺陷在代码中位置,以及每个缺陷的类型,比如:缺陷在代码的第10行,缺陷的类型为变量命名不正确。

由于用户仅能获知缺陷在代码中的位置和缺陷的类型,因此,当终端修复缺陷的时间有限,从而只能修复部分缺陷时,并不能及时制定出合理的修复计划,若修复了严重程度低的缺陷,未修复严重程度高的缺陷,会导致缺陷的修复效果差的问题。

发明内容

为了解决终端只显示缺陷在代码中的位置和缺陷的类型,使得用户无法根据缺陷的严重程度或修复缺陷的耗时来修复缺陷,导致的缺陷的修复效果差的问题,本发明提供了一种缺陷显示方法及装置。

第一方面,提供了一种缺陷显示方法,该方法包括:根据代码中的待显示缺陷的标识信息和预设的缺陷的标识信息与属性信息的对应关系,确定该待显示缺陷的属性信息,根据该属性信息确定待显示缺陷对应的图形,显示该待显示缺陷对应的图形;其中,待显示缺陷对应的图形用于指示该待显示缺陷的属性信息,待显示缺陷的属性信息包括该待显示缺陷的缺陷级别和该待显示缺陷的修复耗时中的至少一项,待显示缺陷的修复耗时用于指示对待显示缺陷进行修复的耗时,待显示缺陷的缺陷级别用于指示待显示缺陷的严重程度。

由于待显示缺陷的修复耗时用于指示对待显示缺陷进行修复的耗时,且待显示缺陷的缺陷级别用于指示待显示缺陷的严重程度,因此,当终端显示有用于指示待显示缺陷的修复耗时的图形时,用户可以根据该图形确定出该待显示缺陷的修复耗时;当终端显示有用于指示待显示缺陷的缺陷级别的图形时,用户可以根据该图形确定出该图形对应的待显示缺陷的严重程度,解决了用户无法确定出缺陷的严重程度或修复缺陷的耗时,从而无法根据缺陷的严重程度或修复缺陷的耗时确定出需要优先修复哪些缺陷,导致缺陷的修复效果较差的问题,提高了缺陷的修复效果。

结合第一方面,在第一方面的第一种实现中,待显示缺陷的修复方式包括人工修复,待显示缺陷的属性信息包括待显示缺陷的缺陷级别,根据待显示缺陷的属性信息,确定待显示缺陷对应的图形,包括:根据待显示缺陷的缺陷级别,确定第一图形,此时,图形包括第一图形,第一图形的尺寸用于指示待显示缺陷的缺陷级别,第一图形的数量与待显示缺陷的数量相等;当待显示缺陷包括第一缺陷时,根据第一缺陷的缺陷级别,确定第二图形,第一缺陷的修复方式还包括自动修复,此时,图形还包括第二图形,第二图形的尺寸用于指示第一缺陷的缺陷级别,第二图形的数量与第一缺陷的数量相等;显示待显示缺陷对应的图形,包括:在待显示缺陷的数量为至少两个时,显示人工修复质量轨迹,人工修复质量轨迹为对第一图形进行排列从而形成的轨迹;在第一缺陷的数量为至少两个时,显示自动修复质量轨迹,自动修复质量轨迹为对第二图形进行排列从而形成的轨迹。

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