[发明专利]缺陷显示方法及装置有效
申请号: | 201610640366.4 | 申请日: | 2016-08-05 |
公开(公告)号: | CN107688527B | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 李韧;闫浩;谢丽 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 罗振安 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 缺陷 显示 方法 装置 | ||
1.一种缺陷显示方法,其特征在于,所述方法包括:
获取代码中的待显示缺陷的标识信息,所述待显示缺陷的修复方式包括人工修复;
根据所述待显示缺陷的标识信息和预设的缺陷的标识信息与缺陷的属性信息的对应关系,确定所述待显示缺陷的属性信息,所述待显示缺陷的属性信息包括所述待显示缺陷的缺陷级别,所述待显示缺陷的缺陷级别用于指示所述待显示缺陷的严重程度;
根据所述待显示缺陷的属性信息,确定所述待显示缺陷对应的图形,所述待显示缺陷对应的图形用于指示所述待显示缺陷的属性信息;
显示所述待显示缺陷对应的图形;
其中,所述根据所述待显示缺陷的属性信息,确定所述待显示缺陷对应的图形,包括:根据所述待显示缺陷的缺陷级别,确定第一图形,所述图形包括所述第一图形,所述第一图形的尺寸用于指示所述待显示缺陷的缺陷级别,所述第一图形的数量与所述待显示缺陷的数量相等;当所述待显示缺陷包括第一缺陷时,根据所述第一缺陷的缺陷级别,确定第二图形,所述第一缺陷的修复方式还包括自动修复,所述图形还包括所述第二图形,所述第二图形的尺寸用于指示所述第一缺陷的缺陷级别,所述第二图形的数量与所述第一缺陷的数量相等;
所述显示所述待显示缺陷对应的图形,包括:在待显示缺陷的数量为至少两个时,显示人工修复质量轨迹,所述人工修复质量轨迹为对所述第一图形进行排列从而形成的轨迹;在所述第一缺陷的数量为至少两个时,显示自动修复质量轨迹,所述自动修复质量轨迹为对所述第二图形进行排列从而形成的轨迹。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一图形的颜色是第一颜色,所述第二图形的颜色是第二颜色,所述第一颜色与所述第二颜色不同。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述图形还包括第三图形,所述第三图形的尺寸用于指示所述待显示缺陷的缺陷级别,所述第三图形的数量与所述待显示缺陷的数量相等,所述第三图形包括颜色为所述第一颜色的图形和颜色为所述第二颜色的图形中至少一种,所述颜色为所述第一颜色的图形代表的缺陷的推荐修复方式为人工修复,所述颜色为所述第二颜色的图形代表的缺陷的推荐修复方式为自动修复,所述待显示缺陷的推荐修复方式为所述待显示缺陷包括的修复方式中的一种;
所述显示所述待显示缺陷对应的图形,包括:
显示综合修复质量轨迹,所述综合修复质量轨迹为对所述第三图形进行排列从而形成的轨迹。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述人工修复质量轨迹、所述自动修复质量轨迹和所述综合修复质量轨迹的轨迹形状为圆形,所述人工修复质量轨迹、所述自动修复质量轨迹和所述综合修复质量轨迹的轨迹半径不同,且所述人工修复质量轨迹、所述自动修复质量轨迹和所述综合修复质量轨迹的轨迹圆心位置相同,所述第一图形的重心位置、所述第二图形的重心位置、所述第三图形的重心位置与所述人工修复质量轨迹的轨迹圆心位置位于同一直线上,且所述第一图形的重心位置、所述第二图形的重心位置和所述第三图形的重心位置在所述人工修复质量轨迹的轨迹圆心位置的同一侧。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
显示人工修复控件、自动修复控件和综合修复控件中的至少一种;
当显示所述人工修复控件,且检测到作用于所述人工修复控件上的选择操作时,显示所述人工修复质量轨迹中的图形对应的缺陷的人工修复质量的总和,其中,所述人工修复质量是所述人工修复质量轨迹中的图形对应的缺陷的缺陷级别除以所述代码的代码行数得到的值;
当显示所述自动修复控件,且检测到作用于所述自动修复控件上的选择操作时,显示所述自动修复质量轨迹中的图形对应的缺陷的自动修复质量的总和,其中,所述自动修复质量是所述自动修复质量轨迹中的图形对应的缺陷的缺陷级别除以所述代码的代码行数得到的值;
当显示所述综合修复控件,且检测到作用于所述综合修复控件上的选择操作时,接收用户输入的质量期望值,根据所述质量期望值启动对所述综合修复质量轨迹中的图形对应的缺陷中的待修复缺陷的修复操作,其中,所述质量期望值是所述待修复缺陷的综合修复质量的总和的上限,所述综合修复质量是所述待修复缺陷中缺陷的缺陷级别除以所述代码的代码行数得到的值,所述待修复缺陷的数量小于或者等于所述综合修复质量轨迹中的图形对应的缺陷的总数量。
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