[发明专利]一种扩散硅高静压微差压传感器在审
| 申请号: | 201610580047.9 | 申请日: | 2016-07-22 |
| 公开(公告)号: | CN107643145A | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
| 发明(设计)人: | 余德丰 | 申请(专利权)人: | 上海域丰传感仪器有限公司 |
| 主分类号: | G01L13/00 | 分类号: | G01L13/00 |
| 代理公司: | 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙)31297 | 代理人: | 赵朋晓 |
| 地址: | 200000 上海市松*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 扩散 静压 微差压 传感器 | ||
1.一种扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,包括:正盒固定座以及设于所述正盒固定座下侧的负盒固定座,所述正盒固定座内嵌设有盘型填充主体,所述盘型填充主体与所述负盒固定座之间设有空腔,所述空腔内的两端分别设有静压座、差压座,所述静压座与所述差压座内均设有导线柱;
所述负盒固定座内设有反应区,所述正盒固定座背离于所述负盒固定座的一侧设有连接件,所述连接件内设有接线板,所述盘型填充主体内设有导线通孔,所述接线板与两所述导线柱之间设有导线,所述导线固定在所述导线通孔内;
所述反应区包括低压区、高压区,所述导线通孔位于所述高压区正上方,所述差压座位于所述低压区上方,所述负盒固定座的上侧设有所述静压座;
所述静压座背离于所述差压座的一侧根部设有静压芯片,所述差压座背离于所述静压芯片的一侧根部设有差压芯片,所述静压芯片大于两个,所述差压芯片大于两个。
2.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述盘型填充主体远离所述静压座的一端向下设有过载膜片,所述过载膜片的背离于所述静压座的一侧设有过载压环。
3.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述差压座与所述过载膜片之间设有保护罩密封阻挡。
4.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述正盒固定座的外侧设有膜片板体,所述膜片板体与所述正盒固定座的连接方式为焊接。
5.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述正盒固定座与所述盘型填充主体之间的连接方式为焊接。
6.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述静压座、所述差压座分别与所述盘型填充主体的贴合面设有嵌台。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海域丰传感仪器有限公司,未经上海域丰传感仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610580047.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





