[发明专利]一种扩散硅高静压微差压传感器在审

专利信息
申请号: 201610580047.9 申请日: 2016-07-22
公开(公告)号: CN107643145A 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 余德丰 申请(专利权)人: 上海域丰传感仪器有限公司
主分类号: G01L13/00 分类号: G01L13/00
代理公司: 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙)31297 代理人: 赵朋晓
地址: 200000 上海市松*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 扩散 静压 微差压 传感器
【权利要求书】:

1.一种扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,包括:正盒固定座以及设于所述正盒固定座下侧的负盒固定座,所述正盒固定座内嵌设有盘型填充主体,所述盘型填充主体与所述负盒固定座之间设有空腔,所述空腔内的两端分别设有静压座、差压座,所述静压座与所述差压座内均设有导线柱;

所述负盒固定座内设有反应区,所述正盒固定座背离于所述负盒固定座的一侧设有连接件,所述连接件内设有接线板,所述盘型填充主体内设有导线通孔,所述接线板与两所述导线柱之间设有导线,所述导线固定在所述导线通孔内;

所述反应区包括低压区、高压区,所述导线通孔位于所述高压区正上方,所述差压座位于所述低压区上方,所述负盒固定座的上侧设有所述静压座;

所述静压座背离于所述差压座的一侧根部设有静压芯片,所述差压座背离于所述静压芯片的一侧根部设有差压芯片,所述静压芯片大于两个,所述差压芯片大于两个。

2.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述盘型填充主体远离所述静压座的一端向下设有过载膜片,所述过载膜片的背离于所述静压座的一侧设有过载压环。

3.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述差压座与所述过载膜片之间设有保护罩密封阻挡。

4.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述正盒固定座的外侧设有膜片板体,所述膜片板体与所述正盒固定座的连接方式为焊接。

5.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述正盒固定座与所述盘型填充主体之间的连接方式为焊接。

6.根据权利要求1所述的扩散硅高静压微差压传感器,其特征在于,所述静压座、所述差压座分别与所述盘型填充主体的贴合面设有嵌台。

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