[发明专利]机械手及半导体加工设备有效
申请号: | 201610544541.X | 申请日: | 2016-07-12 |
公开(公告)号: | CN107611069B | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
发明(设计)人: | 侯宁 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 机械手 半导体 加工 设备 | ||
本发明提供的机械手及半导体加工设备,其包括手指安装板、安装在其上的机械手指和角度调节机构,其中,机械手指可相对于手指安装板在水平面内旋转。角度调节机构用于采用螺纹配合的方式调节机械手指的旋转角度。本发明提供的机械手,其可以减小机械手指的角度调整量,从而可以避免调整过量、提高调整精度,进而不仅可以简化调整过程,而且可以降低晶片偏移的几率。
技术领域
本发明涉及半导体制造领域,具体地,涉及一种机械手及半导体加工设备。
背景技术
在集成电路、半导体照明、微机电系统等领域的晶圆刻蚀工艺中,通常采用等离子体干法刻蚀设备完成晶片的刻蚀工艺。为了提高设备自动化程度和安全性,晶片一般都采用机械手或其他自动化装置进行传输。
图1为现有的机械手的俯视图。请参阅图1,机械手包括手指安装板1和安装在其上的机械手指2,且该机械手指2可在水平面内相对于手指安装板1旋转。并且,机械手还包括多个紧固螺钉3,且环绕设置在机械手指2的旋转中心的周围,用以固定手指安装板1和机械手指2。
为了保证在机械手将晶片传递至反应腔室内的卡盘上时,晶片能够与卡盘同心,在机械手正式进行传片之前,预先要对机械手指在水平面内的旋转角度进行调整,如图2所示,机械手指2在正常位置时,可以保证机械手在将晶片传入反应腔室内的卡盘上之后,晶片与卡盘同心。若机械手指2相对于该正常位置顺时针或逆时针偏移至偏移位置1或者偏移位置2,则需要通过旋转机械手指2来将其自偏移位置调整至正常位置。具体来说,首先在大致调整好机械手指的旋转角度之后,拧紧紧固螺钉3;然后通过机械手将晶片传入反应腔室内的卡盘上,并观察晶片与卡盘的相对位置,若二者不同心,则移出机械手,并旋松各个紧固螺钉3,然后手动顺时针或逆时针转动机械手指2,以调整其旋转角度。在调整完毕之后,再次拧紧紧固螺钉3,并通过机械手进行上述传片操作,若晶片和卡盘仍然不同心,则需要重复以上动作,直至晶片和卡盘同心为止。
在调整机械手指2的旋转角度的过程中,采用手动转动机械手指2的方式调节其旋转角度,调整精度低,且容易调整过量,从而需要反复装卸紧固螺钉3,造成调整过程复杂。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种机械手及半导体加工设备,其可以避免调整过量、提高调整精度,从而不仅可以简化调整过程,而且可以降低晶片偏移的几率。
为实现本发明的目的而提供一种机械手,包括手指安装板和安装在其上的机械手指,且所述机械手指可相对于所述手指安装板在水平面内旋转,还包括角度调节机构,用于采用螺纹配合的方式调节所述机械手指的旋转角度。
优选的,所述角度调节机构包括两个调整部件、固定部件和两个螺钉,其中,所述两个调整部件设置在所述机械手指上,且沿平行于所述机械手指的旋转圆周的切线方向间隔设置,并且在每个所述调整部件上设置有螺纹孔,两个所述调整部件的所述螺纹孔同轴;所述螺纹孔的轴线水平设置,且平行于所述机械手指的旋转圆周的切线方向;所述固定部件设置在所述手指安装板上,且位于两个所述螺纹孔之间;两个所述螺钉分别安装在两个所述螺纹孔中,且两个所述螺钉的一端均与所述固定部件相接触;通过旋紧或旋松其中一个所述螺钉,而使所述调整部件带动所述机械手指顺时针或逆时针旋转。
优选的,所述角度调节机构包括调整部件、固定部件和螺钉,其中,所述调整部件设置在所述手指安装板上,且在所述调整部件上设置有螺纹孔,所述螺纹孔的轴线水平设置,且平行于所述机械手指的旋转圆周的切线方向;所述螺钉安装在所述螺纹孔中,且通过所述固定部件与所述机械手指固定连接;通过旋紧或旋松所述螺钉,而使所述固定部件带动所述机械手指顺时针或逆时针旋转。
优选的,所述螺纹孔的轴线垂直于所述手指安装板的前进方向。
优选的,在所述手指安装板上设置有旋转轴,所述旋转轴的轴线与所述水平面相互垂直;并且,在所述机械手指上设置有安装孔,所述旋转轴安装在所述安装孔中。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造