[发明专利]一种小角X射线散射的全谱拟合方法及系统在审

专利信息
申请号: 201610538586.6 申请日: 2016-07-08
公开(公告)号: CN107590296A 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 朱才镇;海洋;崔可建;赵宁;徐坚 申请(专利权)人: 深圳大学;中国科学院化学研究所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙)11535 代理人: 刘元霞,张祖萍
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 小角 射线 散射 拟合 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种小角X射线散射SAXS的全谱拟合方法,其特征在于,该方法包括下列步骤:

获取步骤:获得分析对象的散射强度实验图谱;

建模步骤:根据散射强度实验图谱的特征以及分析对象的特点选择散射体的模型,从而确定散射体的散射振幅,构建散射强度计算公式的模型;

解析步骤:调整所述散射强度计算公式模型中的各可调参数,使得根据所述散射强度计算公式得到的计算图谱与所述散射强度实验图谱之差最小,即可解析出所述散射强度计算公式模型的各参数;

其中,所述散射体为椭球体。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述建模步骤中,设定所述椭球体的中心为坐标原点,则所述椭球体的散射振幅F(q)的计算公式为:

F(q)=∫vρdVe-iqr(2)

其中,q为散射向量,V为椭球体的体积,ρ为椭球体的电子密度,r为椭球体上任意一点到坐标原点的距离。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述散射体的数量为多个,构成散射体系时,在建模步骤中,构建的散射强度I(q)的计算公式模型为:

其中,q为散射向量,Fn为所述散射体系中第n个散射体的散射振幅,Fn’为所述散射体系中第n’个散射体的散射振幅,N为所述散射体系中散射体的数量,rn为所述散射体系中第n个散射体的中心,rn'为所述散射体系中第n'个散射体的中心。。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,对于尺寸不一、存在取向的稀松体系,在建模步骤中,根据散射体的散射振幅以及根据散射体的尺寸分布和取向分布,来构建散射强度计算公式的模型;

所构建的散射强度计算公式的模型为:

(8)

其中,C1为常数,R1、R2、R3为椭球体的三个半轴长,f(R1)、f(R2)和f(R3)为椭球体三个轴的尺寸分布,h(ω)为沿取向轴天顶角分布,为方位角分布,ω表示沿取向轴天顶角,ψ表示散射矢量与qx分量方向的夹角,表示方位角。

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