[发明专利]半导体存储装置及输入数据的验证方法

权利要求书

1.一种半导体存储装置，其特征在于包括：

外部端子；

存储器阵列；

数据存储部件，存储从所述外部端子输入的输入数据；以及

比较部件，对从所述外部端子存储于所述数据存储部件中的输入数据、与从所述数据存储部件读出且尚未被编程至所述存储器阵列的输入数据进行比较，

其中所述数据存储部件用以将所存储的输入数据编程至所述存储器阵列中，以响应于判断从所述外部端子存储于所述数据存储部件中的所述输入数据与从所述数据存储部件读出且尚未被编程至所述存储器阵列的所述输入数据为一致。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，所述比较部件是在对所述输入数据进行编程时实施。

3.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置，其特征在于，所述比较部件对所述数据存储部件的同一列地址的输入数据进行比较。

4.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置，其特征在于，所述数据存储部件通过输入线及输出线而连接于所述外部端子，

所述比较部件对在所述输入线上传输的输入数据与在所述输出线上传输的输入数据进行比较。

5.根据权利要求2所述的半导体存储装置，其特征在于，所述半导体存储装置还包括：判定部件，基于所述比较部件的比较结果来判定所述数据存储部件有无故障。

6.根据权利要求2所述的半导体存储装置，其特征在于，所述半导体存储装置还包括对所述半导体存储装置的动作进行控制的控制部件，所述控制部件包含能够存储从所述外部端子输入的命令的存储电路，所述比较部件对被存储于所述存储电路中的输入数据与从所述数据存储部件读出的输入数据进行比较。

7.根据权利要求6所述的半导体存储装置，其特征在于，所述控制部件在由所述比较部件判定为数据不一致时，将存储于所述存储电路中的数据再输入至所述数据存储部件。

8.一种输入数据的验证方法，是半导体存储装置的输入数据的验证方法，所述半导体存储装置包括外部端子、存储从所述外部端子输入的输入数据的数据存储部件、以及连接于所述数据存储部件的存储器阵列，所述输入数据的验证方法的特征在于包括下述步骤：

从所述外部端子将输入数据加载至所述数据存储部件；

读出被加载至所述数据存储部件中且尚未被编程至所述存储器阵列的输入数据；

对存储于所述数据存储部件中的输入数据与从所述数据存储部件读出且尚未被编程至所述存储器阵列的输入数据进行比较；以及

将所存储的输入数据编程至所述存储器阵列中，以响应于判断从所述外部端子存储于所述数据存储部件中的所述输入数据与从所述数据存储部件读出且尚未被编程至所述存储器阵列的所述输入数据为一致。

9.根据权利要求8所述的输入数据的验证方法，其特征在于，所述比较的步骤是在对输入数据进行编程时进行。

10.根据权利要求8或9所述的输入数据的验证方法，其特征在于，所述加载的步骤及所述读出的步骤是在1个数据输入循环中实施。

11.根据权利要求8或9所述的输入数据的验证方法，其特征在于，所述验证方法还包括下述步骤：基于所述比较的步骤的比较结果，来判定所述数据存储部件有无故障。

12.根据权利要求8或9所述的输入数据的验证方法，其特征在于，所述加载的步骤包含存储在输入线上传输的输入数据的步骤，所述比较的步骤对存储的所述输入数据与从所述数据存储部件读出的输入数据进行比较。

13.根据权利要求12所述的输入数据的验证方法，其特征在于包括下述步骤：

当通过所述比较的步骤判定为输入数据不一致时，将通过所述存储的步骤所存储的数据再输入至所述数据存储部件。

14.一种半导体存储装置，包括：

外部端子；

存储器阵列；

锁存电路，耦接至所述外部端子，并用以存储从所述外部端子输入的输入数据；

页面缓冲器与读出电路，耦接至所述外部端子，并用以于所述锁存电路的空闲状态的期间从所述外部端子读出所述输入数据；以及

比较部件，对存储于所述锁存电路中的输入数据与从所述页面缓冲器与读出电路读出且尚未被编程至所述存储器阵列的输入数据进行比较，

其中，所述页面缓冲器与读出电路用以再次加载从所述外部端子的所述输入数据，以响应于判断存储于所述锁存电路中的所述输入数据与从所述页面缓冲器与读出电路读出且尚未被编程至所述存储器阵列的所述输入数据为不一致，

其中，所述页面缓冲器与读出电路用以将所述输入数据编程至所述存储器阵列中，以响应于判断存储于所述锁存电路中的所述输入数据与从所述页面缓冲器与读出电路读出且尚未被编程至所述存储器阵列的所述输入数据为一致。