[发明专利]射频测试系统

说明书

本发明实施例提供一种射频测试系统，系统包括：高集成射频测试芯片，用于接收控制信号，根据控制信号选择待测基站的待测通道，或选择测试仪表与待测通道之间的连接关系，或选择测量时钟输出的工作模式；控制单片机，用于接收测试计算机发送的控制指令，根据控制指令生成相应的控制信号并发送给高集成射频测试芯片；测试计算机，用于向控制单片机发送控制指令；获取待测基站的误块率，配置待测基站的小区参数；测试仪表，用于接收待测通道上的射频信号，或向待测通道发送有用信号或干扰信号；待测基站，用于向高集成射频测试芯片发送射频信号，接收并解调有用信号。

技术领域

本发明实施例涉及通讯领域射频拉远单元(Remote Radio Unit，RRU)射频指标测试技术，尤其涉及一种

背景技术

随着通讯技术的发展,在无线通讯中，各种制式的通讯网络不断更新，为了满足人们对网络日益俱增的需求，第四代移动通讯系统(Fourth Generation，4G)的长期演进移动通讯系统(Long Term Evolution，LTE)网络已在全球商用，第五代移动通讯系统(FifthGeneration，5G)网络的技术也在不断更新迭进。网络通讯质量和网络覆盖率已成为各大运营商运营竞争的主要指标。同时，多通道基站设备的性能测试关系到布网基站的可靠性，也成为各大设备商和运营商之间成本、时间竞争的关键因素。

通讯设备测试技术日趋成熟，发展方向也向着自动化、小型化、更高精度发展。之前的测试方案由于基站设备通道数量有限(1-8个通道)，射频测试通常采用衰减器、环行器、合路器、放大器、隔离器、陷波器等分离器件搭建测试环境。测试系统分离器件繁多，如果需要对多端口设备进行测试，环境的搭建极其复杂和庞大。而且容易引入外部电磁环境的干扰。同时测试中出现环境的接口松动、分离器件故障等问题较难排查，测试效率低。

随着5G大规模多输入多输出系统(massive Multiple-Input Multiple-Output，massive mimo)的出现，64、128甚至更多通道的基站设备相继出现，传统测试手段已无法满足测试的需要。

发明内容

为解决现有存在的技术问题，本发明实施例提供一种射频测试系统，以解决现有技术中存在的测试集成度低、测试环境一致性差、测试较易受到外界电磁环境影响且测试端口数量多的问题

为达到上述目的，本发明实施例的技术方案是这样实现的：

一种射频测试系统，所述系统包括：高集成射频测试芯片、控制单片机、测试计算机、测试仪表以及待测基站；

其中，所述高集成射频测试芯片，用于接收控制信号，根据所述控制信号选择待测基站的待测通道，或选择所述测试仪表与所述待测通道之间的连接关系，或选择测量时钟输出的工作模式；

所述控制单片机，用于接收所述测试计算机发送的控制指令，根据所述控制指令生成相应的控制信号并发送给所述高集成射频测试芯片；

所述测试计算机，用于向所述控制单片机发送所述控制指令；获取所述待测基站的误块率，配置所述待测基站的小区参数；

所述测试仪表，用于接收所述待测通道上的射频信号，或向所述待测通道发送有用信号或干扰信号；

所述待测基站，用于向所述高集成射频测试芯片发送所述射频信号，接收并解调所述有用信号。

如上所述的系统，其中，所述控制信号包括：通道选择信号、测试模式信号以及时钟模式信号；

所述高集成射频测试芯片，具体用于根据所述通道选择信号选择所述待测基站的待测通道；或者，根据所述测试模式信号选择所述测试仪表与所述待测通道之间的连接关系；或者，根据所述时钟模式信号选择所述测量时钟输出的工作模式。

如上所述的系统，其中，所述控制单片机具体通过以太网控制芯片接收所述控制指令。