[发明专利]射频测试系统

权利要求书

1.一种射频测试系统，其特征在于，所述系统包括：高集成射频测试芯片、控制单片机、测试计算机、测试仪表以及待测基站；

其中，所述高集成射频测试芯片，用于接收控制信号，所述控制信号包括：通道选择信号、测试模式信号以及时钟模式信号，所述高集成射频测试芯片根据所述通道选择信号选择待测基站的待测通道，根据所述测试模式信号选择所述测试仪表与所述待测通道之间的连接关系，以及根据所述时钟模式信号选择测量时钟输出的工作模式；

所述控制单片机，用于接收所述测试计算机发送的控制指令，根据所述控制指令生成相应的控制信号并发送给所述高集成射频测试芯片；

所述测试计算机，用于向所述控制单片机发送所述控制指令；获取所述待测基站的误块率，配置所述待测基站的小区参数；

所述测试仪表，用于接收所述待测通道上的射频信号，或向所述待测通道发送有用信号或干扰信号，所述干扰信号用于测试所述待测基站的所述待测通道的端口的上行有干扰信号指标或下行有干扰信号指标；

所述待测基站，用于向所述高集成射频测试芯片发送所述射频信号，接收并解调所述有用信号。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制单片机具体通过以太网控制芯片接收所述控制指令。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述控制指令包括：通道选择指令、测试模式指令、时钟模式指令；

所述控制单片机具体用于根据接收到的所述通道选择指令生成通道选择信号并发送给所述高集成射频测试芯片；根据所述测试模式指令生成测试模式信号并发送给所述高集成射频测试芯片；以及根据所述时钟模式指令生成时钟模式信号并发送给所述高集成射频测试芯片。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试计算机具体用于：通过以太网控制芯片向所述控制单片机发送所述控制指令。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试计算机具体用于：统计接收到的所述测试仪表发送的所述有用信号在不同电平值时的误块率。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试仪表包括：矢量信号分析仪、第一矢量信号发生器和第二矢量信号发生器；

所述矢量信号分析仪用于接收所述待测通道上的所述射频信号，根据所述射频信号进行射频指标测试；

所述第一矢量信号发生器，用于向所述待测通道发送所述有用信号；

所述第二矢量信号发生器，用于向所述待测通道发送所述干扰信号。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述待测基站具体用于：通过信号衰减器将所述待测基站发出所述射频信号的功率衰减为小功率，并将小功率的所述射频信号发送给所述高集成射频测试芯片；

接收第一矢量信号发生器经过所述高集成射频测试芯片和所述信号衰减器发送的所述有用信号。

8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述测试仪表与所述待测通道之间的连接关系包括：

所述第一矢量信号发生器与所述待测通道连接；

所述第一矢量信号发生器和所述第二矢量信号发生器合路后，与所述待测通道连接；

所述矢量信号分析仪与所述待测通道连接；

所述第二矢量信号发生器与所述待测通道合路后，与所述矢量信号分析仪连接。

9.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测量时钟输出的工作模式包括：

从所述待测通道的信号中恢复出所述测量时钟；或者，从外部时钟输入端口的信号中恢复出所述测量时钟。