[发明专利]利用研磨机台研磨异常晶圆片的方法有效

专利信息
申请号: 201610375178.3 申请日: 2016-05-31
公开(公告)号: CN107443174B 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 殷天赐 申请(专利权)人: 无锡华润上华科技有限公司
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00;B24B37/34;B24B37/005
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 邓云鹏
地址: 214028 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 利用 研磨 机台 异常 晶圆片 方法
【说明书】:

发明涉及一种利用研磨机台研磨异常晶圆片的方法,包括:在储片盒内放入正常的晶圆片,并启动研磨工艺;传送器从储片盒内取出该正常的晶圆片并转移到对位台上;在传送器退回到储片盒,且晶圆片在对位台上开始对位之前,暂停研磨工艺;将位于对位台上的所述正常的晶圆片替换为异常晶圆片;恢复暂停的研磨工艺,对位台对异常晶圆片进行对位;对位完成后,异常晶圆片被转移到研磨工作台进行研磨直至结束。上述方法操作更加简单,且成功率很高。

技术领域

本发明涉及半导体制造设备技术领域,特别是涉及一种利用研磨机台研磨异常晶圆片的方法。

背景技术

研磨机台是用来对晶圆实施研磨工艺的设备,研磨一般可用于减薄、平坦化等工艺中。

在批量生产过程中,成批的晶圆按照自动工序在研磨机台中按序不断进行研磨。然而在自动生产过程中,如遇到异常翘曲或者表面粗糙度异常的晶圆,研磨机台会因为晶圆的厚度异常而报警并停止自动工序。

此时,需要在研磨机台上连接一个手动控制面板(handy panel)与研磨机台通信,通过手动设置相关参数来进行研磨。

图1为研磨机台的结构简图。该研磨机台在研磨区内设有两个内部研磨部件3、4。例如研磨部件3具有一个可以上下运动的研磨轴1(一般可以称为Z1轴)。研磨机台的研磨区设有可以打开的侧边盖2、5,方便在进行检修维护时打开对内部部件进行维护,也可以在手动研磨时打开。

以下结合图1简单说明手动控制研磨的过程,大致包括以下步骤:

步骤S1:将手动控制面板连接到研磨机台,并设置研磨转轴的次序。

步骤S2:选择研磨模式(即手动研磨)以及相关的其他参数。

步骤S3:打开研磨区的侧边盖2、5等外部结构,使内部研磨部件3、4可见,并控制研磨轴1抬升,然后手动放置晶圆片。

步骤S4:开启真空吸附,关上侧边盖2、5,手动启动研磨过程。

步骤S5:确认研磨结束后,将晶圆片取下。

上述手动研磨的过程非常繁琐,不仅费时,而且由于需要手动放置和取出晶圆片,极易导致晶圆片碎裂。

发明内容

基于此,有必要提供一种利用研磨机台研磨异常晶圆片的方法,无需人为手动控制研磨,大大减少操作量并提高成功率。

一种利用研磨机台研磨异常晶圆片的方法,包括:

在储片盒内放入正常的晶圆片,并启动研磨工艺;

传送器从储片盒内取出该正常的晶圆片并转移到对位台上;

在传送器退回到储片盒,且晶圆片在对位台上开始对位之前,暂停研磨工艺;

将位于对位台上的所述正常的晶圆片替换为异常晶圆片;

恢复暂停的研磨工艺,对位台对异常晶圆片进行对位;

对位完成后,异常晶圆片被转移到研磨工作台进行研磨直至结束。

在其中一个实施例中,在启动研磨工艺之前,设置研磨菜单,为研磨工作台设置与异常晶圆片相适应的初始厚度参数。

在其中一个实施例中,所述研磨机台设有研磨区,所述研磨区设有第一研磨部件和第二研磨部件;所述设置研磨菜单还包括:设置第一研磨部件和第二研磨部件是否参与研磨。

在其中一个实施例中,在暂停研磨工艺之后,确认所有的研磨工序的关联结构暂停。

在其中一个实施例中,所述关联结构包括:

传送器、对位台、传入传送臂、研磨清洗器、研磨工作台、第一研磨部件、第二研磨部件、传出传送臂以及清洗台。

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