[发明专利]一种用于生长单一晶向氧化锌的预处理方法有效

专利信息
申请号: 201610338812.6 申请日: 2016-05-19
公开(公告)号: CN107400920B 公开(公告)日: 2019-10-29
发明(设计)人: 张思敏;夏洋;卢维尔;程嵩;李楠 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: C30B25/00 分类号: C30B25/00;C30B29/16
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 房德权
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 生长 单一 氧化锌 预处理 方法
【说明书】:

发明公开了用于生长单一晶向氧化锌的预处理方法,属于半导体技术领域,本发明实施例通过将清洗好的衬底放入反应腔室中;开启罗茨泵和前级泵,并在抽真空的同时对样品盘、载气通道和腔室壁进行加热,在加热的过程中吹载气;当所述腔室壁的温度达到第一预定温度时,关闭载气,并开启分子泵;当所述腔室壁的温度达到第二预定温度时,关闭所述分子泵,并打开载气;当所述样品盘温度在第一温度范围内变化,且,所述载气通道和所述腔室壁在第二温度范围内变化时,开始后续沉积工艺的技术手段,实现了较好制备单晶氧化锌薄膜的技术效果。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种用于生长单一晶向氧化锌的预 处理方法。

背景技术

随着半导体技术的不断发展,半导体薄膜在微电子、光学、信息学等高新 技术产业中发挥出十分重要的作用,发展高晶体质量半导体薄膜的制备与掺杂 技术,特别是对于第三代半导体材料ZnO薄膜的制备、表征、掺杂极其特性 研究,对于包括紫外波段发光材料、紫外探测器,高集成度光子学与电子学器 件、太阳能电池等面向新能源的重要应用领域具有十分重要的意义。

氧化锌作为一种新型的Ⅱ-Ⅵ族直接带隙宽禁带化合物,具有大的室温禁 带宽度3.37eV,而且自由激子结合能高达60meV,作为半导体材料越来越受 到人们的重视。与其它宽禁带半导体材料相比,ZnO薄膜生长温度低,抗辐射 性好,受激辐射有较低的阈值功率和很高的能量转换效率,这些优点使ZnO 正成为光电子、微电子、信息等高新技术在十二五之后赖以继续发展的关键基 础材料。

同时,单晶氧化锌比多晶氧化锌在电学特性和光学特性上有更大的优势, 单晶氧化锌具有高透明度、低电阻、高载流子迁移率等诸多优良特性,对于制 备太阳能电池的透明导电薄膜,半导体器件等领域有着非常重要的意义。

但是,发明人在研发和生产实践过程中发现现有技术存在如下问题:

目前生长氧化锌薄膜的方法有很多种,比如化学气相沉积(CVD)、磁控 溅射、分子束外延(MBE)、激光脉冲沉积(PLD)和原子层沉积(ALD)等。 其中化学气相沉积技术(CVD)和原子层沉积技术(ALD)由于制备的氧化锌 薄膜结晶质量较差,往往呈现的是多晶向的薄膜,很大程度的限制了其在半导 体行业的应用。因此,需要寻求一种好的实验方法,可以有效的制备单晶氧化 锌薄膜。

发明内容

本发明实施例通过提供一种用于生长单一晶向氧化锌的预处理方法,解决 了现有技术中制备氧化锌薄膜结晶质量较差、呈现的是多晶向薄膜的技术问 题,实现了较好制备单晶氧化锌薄膜的技术效果。

本发明实施例提供了一种用于生长单一晶向氧化锌的预处理方法,所述方 法包括:将清洗好的衬底放入反应腔室中;开启罗茨泵和前级泵,并在抽真空 的同时对样品盘、载气通道和腔室壁进行加热,在加热的过程中吹载气;当所 述腔室壁的温度达到第一预定温度时,关闭载气,并开启分子泵;当所述腔室 壁的温度达到第二预定温度时,关闭所述分子泵,并打开载气;其中,所述第 二预定温度高于所述第一预定温度,当所述样品盘温度在第一温度范围内变 化,且,所述载气通道和所述腔室壁在第二温度范围内变化时,开始后续沉积 工艺。

进一步的,在所述将清洗好的衬底放入反应腔室中之前,所述方法还包括: 采用蓝宝石清洗步骤对所述衬底进行清洗。

进一步的,所述采用蓝宝石清洗步骤对所述衬底进行清洗,还包括:将衬 底置入丙酮中超声第一预定时间,取出后气体吹干;将衬底置入异丙醇溶液超 声第二预定时间,取出后气体吹干;将衬底置入去离子水中超声第三预定时间, 取出后气体吹干。

进一步的,所述方法还包括:分子泵抽本底真空过程中,所述罗茨泵和所述 前级泵保持开启状态,且所述真空度在10-8Pa以内。

进一步的,所述方法还包括:在分子泵关闭后,保持罗茨泵和前级泵开启状 态。

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