[发明专利]样本收集组件及其制作方法

权利要求书

1.一种样本收集组件，其特征在于，包括：

两基板，彼此相对叠置，各所述基板具有第一表面、与所述第一表面相对的第二表面、第一凹槽以及至少一第二凹槽，所述两第一表面彼此相对设置，且所述第一凹槽及所述至少一第二凹槽分别位于所述第一表面，其中各所述基板的所述第一凹槽共同形成第一连通道，并各所述基板的所述第二凹槽共同形成连通至所述样本收集组件外的至少一第二连通道，且所述第一连通道及所述至少一第二连通道彼此连通；

间隔件，配置在所述两第一表面之间，用以连接并固定所述两基板，其中所述两基板及所述间隔件之间形成样本容纳空间，且所述样本容纳空间包括所述第一连通道及所述至少一第二连通道；以及

入口及出口，连通所述第一连通道及所述至少一第二连通道。

2.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述第一连通道及所述至少一第二连通道分别具有第一深度及第二深度，并且所述第二深度大于所述第一深度。

3.根据权利要求2所述的样本收集组件，其特征在于，所述第一深度的范围是落在0.01微米至10微米。

4.根据权利要求2所述的样本收集组件，其特征在于，所述第二深度的范围是落在0.1微米至400微米。

5.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，各所述基板还包括观测窗，所述观测窗配置在所述第二表面并且对应所述样本容纳空间的所述第一连通道的位置。

6.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述入口位于所述第一连通道及所述至少一第二连通道的其中一端的开口，并且所述出口位于所述第一连通道及所述至少一第二连通道的另一端的开口。

7.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述入口位于所述至少一第二连通道的其中一端的开口，并且所述出口位于所述至少一第二连通道的另一端的开口。

8.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述至少一第二连通道的数量为两个，并且所述第二连通道的长度延伸方向与所述第一连通道的长度延伸方向平行。

9.根据权利要求8所述的样本收集组件，其特征在于，各所述第二连通道的两端分别具有所述入口及所述出口，并且其中一个所述第二连通道的所述入口与另一个所述第二连通道的所述出口位于相同的一端。

10.根据权利要求8所述的样本收集组件，其特征在于，所述两基板的其中之一具有所述入口，位于所述基板的所述第二表面，且所述入口连通其中一个所述第二连通道，所述两基板的其中另一具有所述出口，位于所述基板的所述第二表面，且所述出口连通另一个所述第二连通道。

11.根据权利要求8所述的样本收集组件，其特征在于，所述两基板的其中之一具有所述入口及所述出口，所述入口及所述出口分别位于所述基板的所述第二表面，并且分别连通至少所述第二连通道的其中一个。

12.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，还包括至少一组反应电极，配置在所述第一连通道中。

13.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，还包括至少一组加热组件或是传感组件，配置在所述至少一第二连通道中。

14.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，还包括至少一组加热组件或是传感组件，配置在所述至少一第二连通道的其中一端的开口附近。