[发明专利]一种光致发光钻石检测方法及装置在审
申请号: | 201610280268.4 | 申请日: | 2016-04-28 |
公开(公告)号: | CN105784648A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
发明(设计)人: | 宋光均 | 申请(专利权)人: | 广州标旗电子科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63;G01N21/64;G01N21/65 |
代理公司: | 北京市盈科律师事务所 11344 | 代理人: | 谌杰君 |
地址: | 510663 广东省广州市广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光致发光 钻石 检测 方法 装置 | ||
1.一种光致发光钻石检测装置,其特征在于:包括光源、工作 台、列阵检测器、数据处理终端,所述工作台上放置有待检样品,所 述光源的波长为波长小于等于410nm的单色光或者混合光,所述光源 发出光照射到待检样品上,使样品获得能量并产生激发导致发光,发 光的光线射入列阵检测器后进行检测,进而将发光的光线的光子信息 依波长顺序转换为电信号,然后将该电信号通过模数转换为数字信号 后,传输到数据处理终端并形成实时的光致发光光谱图。
2.根据权利要求1所述的光致发光钻石检测装置,其特征在于: 所述列阵检测器和待检样品之间设置有用于吸收入射背景光的高通 滤光片,高通滤光片过滤掉入射背景光,降低背景干扰,提高谱图的 辨识度。
3.根据权利要求1所述的光致发光钻石检测装置,其特征在于: 所述光源与待检样品之间设置有用于过滤入射光的第一滤光片,通过 第一滤光片可以滤掉光源发出的其他波长的光线,获得稳定的单色光 或者多种单一波长组成的混合光。
4.根据权利要求1所述的光致发光钻石检测装置,其特征在于: 所述工作台上设置有样品槽和XY轴活动装置,所述待测样品置于样 品槽内,所述样品槽固定在XY轴活动装置上,所述样品槽可以沿XY 轴自由活动,实现多个样品自动测试。
5.一种光致发光钻石检测方法,其特征在于:包括如下步骤:
第一步,照射,将待检样品置于波长小于等于410nm的光源下进 行照射;
第二步,获取光谱图,通过列阵检测器检测待检样品受激发产生 的光线,进而将光线的光子信息依波长顺序转换为电信号,然后将该 电信号通过模数转换为数字信号后,传输到数据处理终端并形成光致 发光光谱图;
第三步,分析光谱图,
a.进行初步判定,根据特征峰,判定该待测样品是否为钻石,但 不区分是天然还是人造,
特征峰的计算公式为(A1为入射光,A2为出射光,单位nm):
A2=1000000/(10000000/A1-1332);
b.随后分析光致发光光谱图中有415nm的波峰,则判定该待测样 品为Ⅰa型天然钻石;
c.随后分析光致发光光谱图中有452nm、465nm、478nm的波峰, 则可进一步判定该待测样品为Ⅰa型天然钻石,但如果仅仅有452nm、 465nm、478nm,没有415nm的波峰,则需要进一步检测怀疑是否为人造 合成钻石;
d.随后分析光致发光光谱图中有737nm的波峰,则判定钻石为 CVD合成钻石;
e.随后分析光致发光光谱图中有986nm的波峰,则判定钻石为高 温高压合成钻石或者高温高压处理钻石;
f.光致发光光谱图中有496nm、504nm、575nm、595nm的任一波 峰,则判定该待测样品经过人工处理;
g.所有波长由于检测器的差异,可能存在1nm的误差。
6.根据权利要求5所述的光致发光钻石检测方法,其特征在于: 所述第二步列阵检测器与待检样品之间设置有高通滤光片,所述高通 滤光片滤掉与光源相同频段波长的光线,降低背景干扰,提高谱图的 辨识度。
7.根据权利要求5所述的光致发光钻石检测方法,其特征在于: 所述第一步中,光源与待检样品之间设置有用于过滤入射光的第一滤 光片,通过第一滤光片可以滤掉光源发出的其他波长的光线,获得稳 定的单色光或者多种单一波长组成的混合光。
8.根据权利要求5所述的光致发光钻石检测方法,其特征在于: 当随入射光的波长,特征峰会随之变化,所述第三步a过程中,特征 峰的选择:
当入射光为405nm时,光致发光光谱图中的特征峰为428nm;
当入射光为395nm时,光致发光光谱图中的特征峰为416nm;
当入射光为360nm时,光致发光光谱图中的特征峰为383nm;
当入射光为220nm时,光致发光光谱图中的特征峰为226.6nm。
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