[发明专利]一种非挥发性存储器的自测试方法和装置

说明书

本发明提供一种非挥发性存储器的自测试方法和装置，非挥发性存储器包括自测试控制器，非挥发性存储器的第一预设存储空间存储测试设备写入的启动标志、最大测试次数和待测试项目信息，方法包括：在上电后，通过自测试控制器判断启动标志是否为使能标志；如果是，通过自测试控制器根据待测试项目信息对非挥发性存储器进行测试，直至对各待测试项目的测试次数等于最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效，设置第一预设存储空间中的启动标志为无效标志；通过自测试控制器记录对应的项目失效信息至非挥发性存储器的第二预设存储空间。本发明使得老化测试简单方便，大幅降低了老化测试对测试设备的要求，测试成本更低。

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，特别是涉及一种非挥发性存储器的自测试方法和一种非挥发性存储器的自测试装置。

背景技术

存储器由于容量大，器件密度高，存在严重的早期失效问题，且这个问题随着存储器工艺尺寸的缩小而加剧。存储器的失效概率与使用次数之间的关系符合图1所示浴缸曲线的特性，即开始使用时存储器的失效概率高，当达到一定使用次数后存储器的失效概率就会大幅降低，直到达到存储器的使用寿命后，存储器的失效概率会继续升高。通过老化测试能够提高存储器的可靠性。老化测试即在存储器出厂之前，对存储器进行反复地擦除、写、读等操作，让早期失效的存储器个体被检测出来，这样出厂时候的产品失效概率已经处于浴缸曲线的底部，失效概率大幅降低。

现有老化测试方法是使用老化测试设备，对存储器依次进行擦、写、校验以及所需的其他操作，并循环特定的次数，从而筛除早期失效的存储器个体。

但是，现有老化测试方法中还存在以下缺点：在批量生产存储器的时候，需要用老化测试设备对存储器进行反复的擦除、写、读等操作，时间很长，由于老化测试设备昂贵，而且单位时间的测试费用也比较昂贵，因此，现有老化测试方法的测试成本很高，造成存储器产品成本上升。

发明内容

鉴于上述问题，本发明实施例的目的在于提供一种非挥发性存储器的自测试方法和一种非挥发性存储器的自测试装置，以解决现有老化测试方法的测试成本很高，造成存储器产品成本上升的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种非挥发性存储器的自测试方法，所述非挥发性存储器包括自测试控制器，所述非挥发性存储器的第一预设存储空间存储测试设备写入的启动标志、最大测试次数和待测试项目信息，所述自测试方法包括以下步骤：在所述非挥发性存储器上电后，通过所述自测试控制器判断所述启动标志是否为使能标志；当所述启动标志为使能标志时，通过所述自测试控制器根据所述待测试项目信息对所述非挥发性存储器进行测试，直至对所述待测试项目信息对应的各待测试项目的测试次数等于所述最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，设置所述第一预设存储空间中的所述启动标志为无效标志；其中，若任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，则通过所述自测试控制器记录对应的项目失效信息至所述非挥发性存储器的第二预设存储空间。

可选地，在所述设置所述第一预设存储空间中的所述启动标志为无效标志时，包括：擦除所述第一预设存储空间中的所述启动标志。

可选地，在所述通过所述自测试控制器根据所述待测试项目信息对所述非挥发性存储器进行测试时，还包括：若任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器有效，通过所述自测试控制器记录对应的项目通过信息至所述第二预设存储空间。

可选地，所述通过所述自测试控制器根据所述待测试项目信息对所述非挥发性存储器进行测试，包括：当所述待测试项目为擦除操作测试时，通过所述自测试控制器对所述非挥发性存储器进行擦除操作和校验，若校验失败，则判断所述待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效；当所述待测试项目为写操作测试时，通过所述自测试控制器对所述非挥发性存储器进行写操作和校验，若校验失败，则判断所述待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效。