[发明专利]一种非挥发性存储器的自测试方法和装置

权利要求书

1.一种非挥发性存储器的自测试方法，其特征在于，所述非挥发性存储器包括自测试控制器，所述非挥发性存储器的第一预设存储空间存储测试设备写入的启动标志、最大测试次数和待测试项目信息，所述自测试方法包括以下步骤：

在所述非挥发性存储器上电后，通过所述自测试控制器判断所述启动标志是否为使能标志；

当所述启动标志为使能标志时，通过所述自测试控制器根据所述待测试项目信息对所述非挥发性存储器进行测试，直至对所述待测试项目信息对应的各待测试项目的测试次数等于所述最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，设置所述第一预设存储空间中的所述启动标志为无效标志；

其中，若任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，则通过所述自测试控制器记录对应的项目失效信息至所述非挥发性存储器的第二预设存储空间。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述设置所述第一预设存储空间中的所述启动标志为无效标志时，包括：

擦除所述第一预设存储空间中的所述启动标志。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述通过所述自测试控制器根据所述待测试项目信息对所述非挥发性存储器进行测试时，还包括：

若任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器有效，通过所述自测试控制器记录对应的项目通过信息至所述第二预设存储空间。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述自测试控制器根据所述待测试项目信息对所述非挥发性存储器进行测试，包括：

当所述待测试项目为擦除操作测试时，通过所述自测试控制器对所述非挥发性存储器进行擦除操作和校验，若校验失败，则判断所述待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效；

当所述待测试项目为写操作测试时，通过所述自测试控制器对所述非挥发性存储器进行写操作和校验，若校验失败，则判断所述待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述非挥发性存储器与所述测试设备相连，所述自测试方法还包括：

通过所述非挥发性存储器接收所述测试设备发送的信息读取指令；

通过所述非挥发性存储器发送所述第二预设存储空间中的信息至所述测试设备。

6.一种非挥发性存储器的自测试装置，其特征在于，所述非挥发性存储器包括自测试控制器，所述非挥发性存储器的第一预设存储空间存储测试设备写入的启动标志、最大测试次数和待测试项目信息，所述自测试装置包括：

判断模块，用于在所述非挥发性存储器上电后，通过所述自测试控制器判断所述启动标志是否为使能标志；

测试模块，用于当所述启动标志为使能标志时，通过所述自测试控制器根据所述待测试项目信息对所述非挥发性存储器进行测试，直至对所述待测试项目信息对应的各待测试项目的测试次数等于所述最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，设置所述第一预设存储空间中的所述启动标志为无效标志；

其中，若任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，则通过所述自测试控制器记录对应的项目失效信息至所述非挥发性存储器的第二预设存储空间。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述测试模块在所述设置所述第一预设存储空间中的所述启动标志为无效标志时，包括：

启动标志擦除单元，用于擦除所述第一预设存储空间中的所述启动标志。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述测试模块在所述通过所述自测试控制器根据所述待测试项目信息对所述非挥发性存储器进行测试时，还用于：

若任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器有效，通过所述自测试控制器记录对应的项目通过信息至所述第二预设存储空间。