[发明专利]利用MPCVD中频感应辅助加热制备金刚石薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 201610256111.8 申请日: 2016-04-22
公开(公告)号: CN105779967A 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 章嵩;李登峰;徐伟清;涂溶;张联盟 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: C23C16/27 分类号: C23C16/27;C23C16/46;C23C16/511;C23C16/513;C23C16/517;C23C16/02
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 崔友明
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 利用 mpcvd 中频 感应 辅助 加热 制备 金刚石 薄膜 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及金刚石薄膜制备技术领域,尤其涉及一种利用MPCVD中频感 应辅助加热制备金刚石薄膜的方法。

背景技术

化学气相沉积(ChemicalVaporDeposition,简称CVD)是制备各种薄膜材 料的重要和普遍使用的技术,利用这一技术可以在各种材料上制备单质或化合 物薄膜。在金刚石薄膜的各种化学气相沉积制备方法中,微波等离子体化学气 相沉积(MPCVD)方法不仅应用广泛,而且是制备高品质金刚石膜的首选方法。

微波等离子体化学气相沉积(MPCVD)中的石英管式MPCVD装置因其构 造简单而在金刚石CVD技术发展的初期得到了广泛的应用,此类MPCVD装置 具有设计简单、成本低廉和操作方便的优点。等离子体的温度主要由微波输入 功率影响,而等离子体又直接地影响基板温度。现有的常规石英管式MPCVD 系统的微波功率由于受石英管软化温度限制,无法通过简单的调节微波功率精 准控制基板温度,而在沉积过程中准确的控制基板温度对于金刚石薄膜的生长 有着重要作用。

发明内容

本发明的目的在于克服现有MPCVD技术制备金刚石薄膜存在的无法精准 控制基板温度、制备的金刚石薄膜品质不够好的不足,提供一种利用MPCVD 中频感应辅助加热制备金刚石薄膜的方法。该方法通过引入中频感应加热系统, 能够实时测控并维持基板温度稳定,从而使晶粒的形核速率、生长速率保持均 匀、稳定,生长出晶粒尺寸和薄膜厚度均匀的金刚石薄膜。

本发明的技术方案为:

利用MPCVD中频感应辅助加热制备金刚石薄膜的方法,包括以下步骤:(1) 将基板放入混有金刚石微粉的丙酮溶剂中,超声震荡一定时间,用去离子水洗 净后以氮气吹干;(2)将处理好的基板置于基板座上,设定好MPCVD系统和 中频感应辅助加热器;(3)抽真空并打开中频感应辅助加热器的开关,对基板 进行预热;(4)在温度接近设定值时通入反应气体与载流气,调节流量计使气 流速度稳定;(5)打开微波源,激发前驱体,开始沉积金刚石薄膜,中频感应 辅助加热器通过热电偶实时监控基板温度使其保持稳定,直至沉积结束。

步骤(1)中所述金刚石微粉的粒径为30-40μm,金刚石在丙酮中的混合浓 度为10g/L。

步骤(2)中MPCVD系统沉积腔压力设定在1000-6000Pa,基板温度设定 在600-900℃。

步骤(4)中通入的气体为CH4、H2和CO2,气体总流量为400-800sccm, CH4与H2的质量流量比小于5%。

本发明具有以下有益效果:(1)保留了原有MPCVD系统沉积金刚石薄膜 的优点;(2)引入中频感应辅助加热器对基板温度进行辅助加热,同时配合热 电偶对基板温度进行监控,通过协调作用使基板温度保持在稳定(±5℃)的范 围内,为金刚石薄膜的生长提供稳定的条件;(3)可在较低的微波功率(0.5KW) 下获得高的基板温度;(4)金刚石在经过预处理的的基板上具有较高的形核密 度;(5)制备出的金刚石薄膜晶粒尺寸均匀,成膜的均匀性得到很好的改善。

附图说明

图1为本发明使用的MPCVD中频感应辅助加热器结构示意图;

图2为本发明利用中频感应辅助加热MPCVD系统制备金刚石薄膜的方法流程 图;

图3为本发明实施例1制备的金刚石薄膜表面扫描电镜二次电子像,放大倍数 为50000倍;

图4为本发明对比例1制备的金刚石薄膜表面扫描电镜二次电子像,放大倍数 为50000倍;

图5为本发明实施例4制备的金刚石薄膜表面扫描电镜二次电子像,放大倍数 为10000倍;

图6为本发明对比例4制备的金刚石薄膜表面扫描电镜二次电子像,放大倍数 为10000倍。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。以下实施例将有 助于本领域的技术人员进一步理解本发明,但不以任何形式限制本发明。应当 指出的是,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还 可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉理工大学,未经武汉理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610256111.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top