[发明专利]一种正装LED发光二极管及其制作工艺在审
| 申请号: | 201610253384.7 | 申请日: | 2016-04-22 |
| 公开(公告)号: | CN105742421A | 公开(公告)日: | 2016-07-06 |
| 发明(设计)人: | 蔡立鹤;张永;陈凯轩;李俊贤;刘英策;陈亮;魏振东;吴奇隆;周弘毅;邬新根;黄新茂 | 申请(专利权)人: | 厦门乾照光电股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/04;H01L33/42 |
| 代理公司: | 扬州市锦江专利事务所 32106 | 代理人: | 江平 |
| 地址: | 361000 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 led 发光二极管 及其 制作 工艺 | ||
技术领域
本发明涉及LED发光二极管的生产技术领域。
背景技术
目前的芯片大部分是正装结构,P电极通过透时导电层直接形成于P-GaN层上,为了将N电极与N-GaN层直接连接,刻蚀时仅保留P电极下方的P-GaN层、量子阱层,其余部分的P-GaN层和量子阱层全部刻蚀去除,直接完全露出N-GaN层。这种结构大量的N-GaN层直接暴露于LED发光二极管表面,在进行ICP刻蚀作N台阶时容易受到外延表面因素的影响,再蒸镀完电极之后,容易出现ICP黑点及LED发光二极管良率低的缺点。
发明内容
本发明目的是提出一种可有效减少出现ICP黑点,并提高LED发光二极管良率的LED发光二极管。
本发明在衬底的同一侧包括依次设置的N-GaN层、量子阱层、P-GaN层和透明导电层,在透明导电层上设置P电极,在N-GaN层上连接N电极,其特征在于在N电极与N-GaN层之间包裹式设置透明导电层、P-GaN层和量子阱层。
本发明保留了N电极下方的部分P-GaN及量子阱层,能够减少N-GaN层直接暴露于LED发光二极管表面的面积,进而减少ICP刻蚀完后的黑点现象的发生,并提高产品的良率,并且本发明有利于增加电流的横向扩展能力,提高电流的分布均匀性。
本发明另一目的是提出以上正装LED发光二极管的制作工艺。
本发明包括以下步骤:
1)在衬底的同一侧依次外延生长形成N-GaN层、量子阱层和P-GaN层;
2)图形化地刻蚀去除各元胞的P-GaN层和量子阱层部分区域,直至暴露出N-GaN层;
3)在外延片表面利用溅射法蒸镀透明导电材料,通过光刻工艺,采用化学蚀刻方法,仅保留各元胞的P-GaN层上的透明导电材料;
4)在相邻的两个元胞中的一个元胞的透明导电层上制作P电极,在另一个元胞的透明导电层、P-GaN层和量子阱层外包裹式制作N电极,N电极的下端连接在N-GaN层上。
本发明制作工艺而简单有效,在同样芯片尺寸面积的条件下将原本需要全部刻蚀掉的P-GaN和MQW保留一部分,从而减少ICP刻蚀完后的黑点现象的发生及良率的提升。
附图说明
图1至图2为本发明制作工艺过程图。
图3为本发明的一种结构示意图。
具体实施方式
一、正装芯片制作工艺如下:
1、在常规衬底1的上方依次外延生长形成N-GaN层2、量子阱层3和P-GaN层4。
2、在黄光光刻工艺中,利用感应偶和等离子(ICP)调节刻蚀气体BCl3和Cl2的比例图形化地刻蚀去除各元胞的P-GaN层和量子阱层部分区域,直至暴露出N-GaN层,刻蚀深度约10000?~16000?。
形在的半制品如图1所示。
3、在外延片表面利用溅射法蒸镀氧化铟锡(ITO)透明导电层5,通过光刻工艺,采用化学蚀刻方法,仅保留P-GaN层上的ITO,使电流在P-GaN层表面分布的均匀性更好。如图2所示。
4、在相邻的两个元胞中的一个元胞的透明导电层上制作形成厚度大约10000?~12000?的P电极。
在相邻的两个元胞中的另一个元胞的透明导电层、P-GaN层和量子阱层外包裹式制作形成厚度大约10000?~12000?的N电极,并使N电极的下端连接在N-GaN层上。
二、制成的产品结构特点:
如图3所示,在衬底1的同一侧包括依次设置的N-GaN层2、量子阱层3、P-GaN层4和透明导电层5,在透明导电层5上设置P电极,在N电极7与N-GaN层2之间包裹式设置透明导电层5、P-GaN层4和量子阱层3。
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