[发明专利]一种测试存储器的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，特别是涉及一种测试存储器的方法和一种测试存储器的装置。

背景技术

存储器由于容量大，器件密度高，存在严重的早期失效问题，且这个问题随着存储器工艺尺寸的缩小而加剧。存储器的失效概率与使用次数之间的关系符合图1所示浴缸曲线的特性，即开始使用时存储器的失效概率高，当达到一定使用次数后存储器的失效概率就会大幅降低，直到达到存储器的使用寿命后，存储器的失效概率会继续升高。通过老化测试能够提高存储器的可靠性。老化测试即在存储器出厂之前，对存储器进行反复地擦除、写、读等操作，将早期失效的存储器个体被检测出来，这样出厂时候的产品失效概率已经处于浴缸曲线的底部，失效概率大幅降低。

现有老化测试方法是使用老化测试设备，对存储器依次进行擦、写、校验以及所需的其他操作，并循环特定的次数，从而筛除早期失效的存储器个体。

但是，现有老化测试方法中还存在以下缺点：在批量生产存储器的时候，需要用老化测试设备对存储器进行反复的擦除、写、读等操作，时间很长，由于老化测试设备昂贵，而且单位时间的测试费用也比较昂贵，因此，现有老化测试方法的测试成本很高，造成存储器产品成本上升。

发明内容

鉴于上述问题，本发明实施例的目的在于提供一种测试存储器的方法和一种测试存储器的装置，以解决现有老化测试方法的测试成本很高，造成存储器产品成本上升的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种测试存储器的方法，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的方法包括以下步骤：将所述存 储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。

可选地，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述启动自测试指令中。

可选地，在所述通过所述第一测试设备发送启动自测试指令之前，还包括：设置所述启动自测试指令中的所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息。

可选地，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述自测试控制器中。

可选地，所述通过所述自测试控制器根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，包括：当所述待测试功能为擦除操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行擦除操作；当所述待测试功能为写操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行写操作；当所述待测试功能为读操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行读操作。

可选地，在所述将所述存储器与第二测试设备连接之前，还包括以下步骤：断开所述存储器与所述第一测试设备之间的连接。

为了解决上述问题，本发明实施例还公开了一种测试存储器的装置，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的装置包括：指令发送模块，用于将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；第一测试模块，用于通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；第二测试模块，用于将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。

可选地，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的 信息集成在所述启动自测试指令中。

可选地，在所述指令发送模块之前，还包括：信息设置模块，用于设置所述启动自测试指令中的所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息。

可选地，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述自测试控制器中。

可选地，所述第一测试模块包括：擦除操作单元，用于当所述待测试功能为擦除操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行擦除操作；写操作单元，用于当所述待测试功能为写操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行写操作；读操作单元，用于当所述待测试功能为读操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行读操作。

可选地，在所述第二测试模块将所述存储器与第二测试设备连接之前，还包括：