[发明专利]一种测试存储器的方法和装置有效
| 申请号： | 201610252553.5 | 申请日： | 2016-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN107305792B | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 胡洪 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 存储器 方法 装置 | ||
1.一种测试存储器的方法，其特征在于，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的方法包括以下步骤：
将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；
通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；
将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述启动自测试指令中。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述通过所述第一测试设备发送启动自测试指令之前，还包括：
设置所述启动自测试指令中的所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述自测试控制器中。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述自测试控制器根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，包括：
当所述待测试功能为擦除操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行擦除操作；
当所述待测试功能为写操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行写操作；
当所述待测试功能为读操作功能时，通过所述自测试控制器对所述存储器进行读操作。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述存储器与第二测试设备连接之前，还包括以下步骤：
断开所述存储器与所述第一测试设备之间的连接。
7.一种测试存储器的装置，其特征在于，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的装置包括：
指令发送模块，用于将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；
第一测试模块，用于通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；
第二测试模块，用于将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述启动自测试指令中。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，在所述指令发送模块之前，还包括：
信息设置模块，用于设置所述启动自测试指令中的所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息。
10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述各待测试功能对应的信息和所述预设最大测试次数对应的信息集成在所述自测试控制器中。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京兆易创新科技股份有限公司，未经北京兆易创新科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610252553.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
