[发明专利]一种低阻值精密电阻的测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子元器件技术领域，具体地说是一种低阻值精密电阻的测试 装置及方法。

背景技术

电阻是一种常见的电子元器件，随着电子产品的更新换代，不断对电阻 的精度及可靠性提出新的要求，同时越来越趋向于小体积，大功率电阻的需求。 常规的电阻，因为阻值及误差原因,用常用普通的测试仪器即可准确量测出其 阻值,但当遇到低阻值精密电阻时,例如毫欧级的精密电阻,普通的设备因为自 身的量测误差,无法准确量出低阻值精密电阻的准确值,如何能够在没有专用 精密电阻测试仪的前提下,可准确量出测低阻值精密电阻的准确阻值是目前现 有技术中急需解决的技术问题。

专利号为CN105021944A的专利文献公开了一种低阻值连通性测试装置 及方法。所述低阻值连通性测试装置包括：信号检测模块，用于将被测电路接 入串联分压电路，并从所述串联分压电路的采样电阻中获取采样电压信号并输 出；放大电路模块，与信号检测模块相连，用于接收所述采样电压信号，经过 差分比例放大电路将所述采样电压信号按预设比例进行放大，输出放大的采样 电压信号；控制电路模块，与放大电路模块相连，用于对所接收放大的采样电 压信号进行电路处理，当所述放大的采样电压信号进行电路处理，当所述放大 的采样电压信号在预设电压范围内时，输出第一电平。该技术方案存在结构复 杂、误差大、成本高等缺点。

发明内容

本发明的技术任务是提供一种低阻值精密电阻的测试装置及方法，来解决 如何能够在没有专用精密电阻测试仪的前提下,可准确量出测低阻值精密电阻 的准确阻值的问题。

本发明的技术任务是按以下方式实现的，一种低阻值精密电阻的测试装 置，该装置包括直流电源供应器(DCPowerSupply)、直流负载仪(Cuurent Meter)、待测低阻值精密电阻(LowOhmChipResistor)和万用表 (Multi-meter)，直流电源供应器、直流负载仪和待测低阻值精密电阻依次串 联组成串联回路，万用表与串联后的直流负载仪与待测低阻值精密电阻并联。 其中，利用直流负载仪测量出通过待测低阻值精密电阻的电流值，利用万用表 测出直流负载仪和待测低阻值精密电阻两端的电压，通过伏安法计算出直流负 载仪和待测低阻值精密电阻总的阻值，用总的阻值减去直流负载仪预设的阻值 便能得到待测低阻值精密电阻的阻值，完成待测低阻值精密电阻的阻值的测 量。

作为优选，所述直流负载仪采用固定电阻与电流计串联电路替代。

一种低阻值精密电阻的测试方法，该方法的步骤如下：

(1)、预设直流负载仪的电阻值R_固以及直流电源供应器的电压值V；

(2)、接通电路，直流负载仪测量并显示出通过待测低阻值精密电阻的电 流值I₁；

(3)、利用万用表测量出直流负载仪与待测低阻值精密电阻两端的电压值 V₁；

(4)、利用伏安法计算出直流负载仪与待测低阻值精密电阻串联后总的电 阻值R_总，即R_总＝V₁/I₁；

(5)、将步骤(4)中计算出的直流负载仪与待测低阻值精密电阻串联后 总的电阻值R_总减去步骤(1)中预设的直流负载仪的电阻值R_固，得到待测低 阻值精密电阻的阻值R_X，即R_X＝R_总-R_固。通过上述方法可以准确的测量出毫欧 级精密低阻值电阻的阻值，大大提高了工作效率。