[发明专利]一种低阻值精密电阻的测试装置及方法

权利要求书

1.一种低阻值精密电阻的测试装置，其特征在于：该装置包括直流电源 供应器、直流负载仪、待测低阻值精密电阻和万用表，直流电源供应器、直流 负载仪和待测低阻值精密电阻依次串联组成串联回路，万用表与串联后的直流 负载仪与待测低阻值精密电阻并联。

2.根据权利要求1所述的一种低阻值精密电阻的测试装置，其特征在于： 所述直流负载仪采用固定电阻与电流计串联电路替代。

3.一种低阻值精密电阻的测试方法，其特征在于：该方法的步骤如下：

(1)、预设直流负载仪的电阻值R_固以及直流电源供应器的电压值V；

(2)、接通电路，直流负载仪测量并显示出通过待测低阻值精密电阻的电 流值I₁；

(3)、利用万用表测量出直流负载仪与待测低阻值精密电阻两端的电压值 V₁；

(4)、利用伏安法计算出直流负载仪与待测低阻值精密电阻串联后总的电 阻值R_总，即R_总＝V₁/I₁；

(5)、将步骤(4)中计算出的直流负载仪与待测低阻值精密电阻串联后 总的电阻值R_总减去步骤(1)中预设的直流负载仪的电阻值R_固，得到待测低 阻值精密电阻的阻值R_X，即R_X＝R_总-R_固。

4.根据权利要求3所述的一种低阻值精密电阻的测试方法，其特征在于： 调整所述步骤(1)中预设直流负载仪的电阻值R_固以及直流电源供应器的电压 值V，测量出多组电流值I₁和多组电压值V₁，利用伏安法计算出多组待测低阻 值精密电阻的阻值，分别为R_X1、R_X2···R_Xn，计算R_X1、R_X2、···R_Xn的平均值作为 待测低阻值精密电阻的阻值R_X，即R_X＝(R_X1+R_X2+···+R_Xn)/n。