[发明专利]具有整合被动元件的半导体元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201610194443.8 申请日: 2011-11-28
公开(公告)号: CN105789199B 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 陈建桦;李德章 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L27/01 分类号: H01L27/01;H01L21/70
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆勍
地址: 中国台湾高雄市*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 具有 整合 被动 元件 半导体 及其 制造 方法
【说明书】:

本发明关于一种具有整合被动元件的半导体元件及其制造方法。该半导体元件包括一基材、一电阻器、一电感器、一连接垫、一保护层及一球下金属层。该电阻器、该电感器及该连接垫邻接于该基材的一表面,且彼此电性连接。该电感器的下表面与该电阻器的下表面共平面。该保护层覆盖该电感器及该电阻器。该球下金属层位于该保护层的开口内以电性连接该连接垫。藉此,可有效减少该半导体元件的厚度。

本申请是申请人于2011年11月28日提交的、申请号为“201110404709.4”的、发明名称为“具有整合被动元件的半导体元件及其制造方法”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明关于一种基材及其加工方法,详言之,关于一种具有整合被动元件的半导体元件及其制造方法。

背景技术

已知电路中通常会具有电阻器及电感器等被动元件。为了微型化目的,将该电阻器及该电感器整合至半导体工艺以形成一具有整合被动元件(Integrated PassiveDevice,IPD)的半导体元件便为一大趋势。然而,该已知半导体元件的厚度无法有效减少,而无法达到微型化的目的。

因此,有必要提供一种具有整合被动元件的半导体元件及其制造方法,以解决上述问题。

发明内容

本发明提供一种具有整合被动元件的半导体元件,其包括一基材、一电阻器、一电感器、一连接垫、一第一保护层及一第一球下金属层(UBM)。该基材具有一第一表面及一第二表面。该电阻器邻接于该基材的第一表面,且包括一第一金属及二个电极,该等电极位于该第一金属上,且彼此分离。该电感器邻接于该基材的第一表面,且电性连接该电阻器,该电感器的下表面与该第一金属的下表面共平面。该连接垫邻接于该基材的第一表面,且电性连接该电感器。该第一保护层覆盖该电感器及该电阻器,该第一保护层具有至少一开口以显露该连接垫。该第一球下金属层(UBM)位于该第一保护层的开口内以电性连接该连接垫。

藉此,该电感器及该连接垫为同一层,而且在形成该电感器后即定义出该电阻器,如此可达到达到缩短工艺流程及节省成本的效果。此外,该电感器的下表面与该第一金属的下表面共平面,而可有效减少该半导体元件的厚度。

本发明另提供一种具有整合被动元件的半导体元件,其包括一基材、一电阻器、一电感器、一连接垫、一第一保护层及一第一球下金属层(UBM)。该基材具有一第一表面、一第二表面及至少一导通孔,该至少一导通孔显露于该基材的第一表面。该一电阻器邻接于该基材的第一表面,该电阻器包括一第一金属及二个电极,该等电极位于该第一金属上,且彼此分离。该电感器邻接于该基材的第一表面,且电性连接该电阻器。该连接垫邻接于该基材的第一表面,且电性连接该电感器及至少一导通孔。该第一保护层覆盖该电阻器及该电感器,且具有至少一开口以显露该连接垫。该第一球下金属层(UBM)位于该第一保护层的开口内以电性连接该连接垫。

本发明另提供一种具有整合被动元件的半导体元件的制造方法,其包括以下步骤:(a)提供一基材,该基材具有一第一表面及一第二表面;(b)形成一第一金属于该基材的第一表面;(c)形成一第二金属于该第一金属上;(d)移除部分该第一金属及该第二金属;(e)形成一第三金属邻于该基材的第一表面以形成一电感器及一连接垫,该电感器电性连接该连接垫;(f)移除部分该第二金属,以形成二个分离的电极,使得该第一金属及该等电极形成一电阻器,该等电极至少其中之一电性连接该电感器;(g)形成一第一保护层于该电感器及该电阻器上,该第一保护层具有至少一开口以显露该连接垫;及(h)形成一第四金属于该第一保护层的开口内以形成一第一球下金属层(UBM),且电性连接该连接垫。

附图说明

图1显示本发明具有整合被动元件的半导体元件的一实施例的剖视示意图;

图2至图7显示本发明具有整合被动元件的半导体元件的制造方法的一实施例的示意图;

图8显示本发明具有整合被动元件的半导体元件的另一实施例的剖视示意图;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日月光半导体制造股份有限公司,未经日月光半导体制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610194443.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top