[发明专利]一种在掺杂膜层上制备黑硅的方法有效
| 申请号: | 201610169139.8 | 申请日: | 2016-03-22 |
| 公开(公告)号: | CN105742407B | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
| 发明(设计)人: | 吴志明;李睿;杜玲艳;唐菲;胡征;李世彬;李伟;吴雪飞;姬春晖 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0288;H01L31/0236 |
| 代理公司: | 电子科技大学专利中心51203 | 代理人: | 张杨 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 掺杂 膜层上 制备 方法 | ||
1.一种在掺杂膜层上制备黑硅的方法,其具体步骤为:
步骤1、对硅衬底进行清洁处理;
步骤2、采用硅靶上固定放置掺杂元素靶材的方式,用磁控溅射的方法在步骤1制得的硅衬底表面沉积一层厚度为50~500nm的掺杂硅膜,掺杂元素为硫系元素;
步骤3、将步骤2制得沉积有掺杂硅膜的硅衬底在0.2~0.8atm氮气保护下用飞秒激光辐照,飞秒激光辐照的入射光波长为750~850nm,通量为1~10kJ/m2,扫描速度为0.5~10mm/s;
步骤4、将步骤3制得的硅衬底于百分比浓度为5%的HF溶液中浸泡1~5min后,置于管式炉中进行热退火,退火温度为500~1200K,退火时间为30~300min,保护气氛为N2或者Ar。
2.如权利要求1所述在掺杂膜层上制备黑硅的方法,其特征在于:所述步骤1具体为,将硅衬底依次在三种溶液中各超声10~15min,洗去衬底表面的油污、颗粒和氧化物;三种溶液分别为:Ⅰ号清洗液是浓度15~18.4mol/L的浓硫酸H2SO4和浓度8~9.7mol/L的双氧水H2O2的混合溶液,体积比为5:1;Ⅱ号清洗液是去离子水H2O、浓度8~9.7mol/L的双氧水H2O2和浓度10~13.3mol/L的氨水NH3·H2O的混合溶液,体积比为:5:2:1;Ⅲ号清洗液是去离子水H2O、浓度为8~9.7mol/L双氧水H2O2和浓度为10~12mol/L浓盐酸HCl的混合溶液,体积比为:7:2:1;更换三种清洗溶液的间隙都需要用去离子水冲洗衬底;最后将洗净的硅衬底在无水乙醇中浸泡密封备用;或者用无水乙醇冲洗后,再用纯度99.99%的氮气吹干立即使用。
3.如权利要求1所述在掺杂膜层上制备黑硅的方法,其特征在于:所述步骤2具体为,用无水乙醇清洁溅射机腔室后,将步骤1得到的清洁硅衬底用托盘固定在溅射机的行走单元上,使抛光面面对溅射的靶材;以贴片的方式在纯硅靶材上放置碲Te元素靶材,并用挡板遮住靶材,碲靶尺寸不超过硅靶的1/20;关闭腔室,先使用机械泵将腔室气压抽至2.5~3pa,再用分子泵使腔室气压降至5.0×10-4~7.0×10-4pa;接下来通入氩气Ar使腔室的气压回到4.5×10-1~5.0×10-1pa,打开射频电源,待腔室内起辉后打开靶材上的挡板,运行行走单元,开始溅射;通过预设的溅射条件,在硅衬底表面沉积50~500nm厚含有杂质的硅膜层,即掺杂硅膜。
4.如权利要求1所述在掺杂膜层上制备黑硅的方法,其特征在于:所述步骤3具体为,将步骤2制得的硅衬底固定在二维平移台的真空腔中,抽出空气使真空度达到10-2~10-1pa,然后充入纯度为99.99%的保护气体N2;开启制冷、除湿设备,在温度及湿度达到要求参数后,启动激光器,预热10分钟;通过控制软件调整激光器的中心波长及重复频率,用出射光路的透镜组调整出射光斑的位置;使用功率计检测实际出射功率后,启动平移台完成飞秒激光将整个硅衬底辐照,关闭激光器,取出样品。
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