[发明专利]一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法及装置。测量过程为：通过镜组探头采集液晶屏产生的光学信号，按照测量所采用的标准调节进入镜组探头的入射光的角度，同时对调节角度后的入射光进行会聚，将会聚后的光学信号导入光纤一端，光学信号经光纤另一端传导至检测设备，检测设备对光学信号进行测量，再对测量结果进行校正，得到准确值。本发明通过光纤将液晶屏的产生光学信号传导至远端再进行测量，一方面避免了现场恶劣环境对测量探头的影响，提高了测量的稳定性和可靠性，还不会造成成本的增加；另一方面，由于光纤具有一定的柔韧性，可以像线束一样进行汇总在一起，安装更加灵活，便于进行分布式测量。

技术领域

本发明属于液晶屏的测试和检测技术领域，具体涉及一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法及装置。

背景技术

在液晶屏的研发、生产、测试和出厂前调试环节中，需要对液晶屏的各种光学参数进行测定，例如亮度、色度、闪烁度等参数，以便对液晶屏的各项参数进行优化和调节并判定该液晶模组是否合格。传统的测量方式是将测量探头直接放在液晶模组的上方，直接对液晶模组的各项参数进行测量。但是在一些特殊场合或环境下，该方法却存在很大的缺陷。例如，在对液晶模组的老化测试中，由于老化炉中的温度和湿度都很高，就对高精密测量探头产生了很大影响，使得测量的精度和可靠性急剧地下降，而采用耐高温高湿的特种测量设备，不仅应用范围有限，而且大大地增加了成本。

发明内容

本发明的目的就是为了解决上述背景技术存在的不足，提供一种测量精度高、成本低的基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法及装置。

本发明采用的技术方案是：一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法，测量过程为：通过镜组探头采集液晶屏产生的光学信号，按照测量所采用的标准调节进入镜组探头的入射光的角度，同时对调节角度后的入射光进行会聚，将会聚后的光学信号导入光纤一端，光学信号经光纤另一端传导至检测设备，检测设备对光学信号进行测量，再对测量结果进行校正，得到准确值。

进一步地，所述镜组探头与光纤一端连接，所述镜组探头包括壳体和位于壳体内同轴依次设置的物镜、光阑和目镜，所述目镜设置在靠近光纤的一端。

进一步地，所述物镜和目镜之间的距离为目镜和物镜的焦距之和，所述光纤端部位于目镜的焦点上。

进一步地，所述调节进入镜组探头的入射光的角度是通过调整镜组探头内物镜、光阑、目镜之间的距离以及光阑口径的大小来实现，所述对调节角度后的入射光进行会聚是通过调整目镜与光纤端部之间的距离实现。

进一步地，所述对光学信号进行校正的方法为通过引入校正系数校正。

一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量装置，包括：

镜组探头，连接在光纤一端，用于采集液晶屏产生的光学信号，并对光学信号进行处理变换后导入光纤一端；

光纤，用于将镜组探头采集处理后的光学信号传导至测量设备；

测量设备，连接光纤另一端，用于检测光纤传导过来的光学信号，并对检测结果进行校正。

进一步地，镜组探头包括壳体和位于壳体内同轴依次设置的物镜、光阑和目镜，所述目镜设置在靠近光纤的一端。

更进一步地，物镜和目镜之间的距离为目镜和物镜的焦距之和，所述光纤端部位于目镜的焦点上。

本发明通过光纤将液晶屏的产生光学信号传导至远端再进行测量，一方面避免了现场恶劣环境对测量探头的影响，提高了测量的稳定性和可靠性，还不会造成成本的增加；另一方面，由于光纤具有一定的柔韧性，可以像线束一样进行汇总在一起，安装更加灵活，便于进行分布式测量。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

图2为本发明镜组探头的检测的示意图。