[发明专利]一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法及装置有效
申请号: | 201610151203.X | 申请日: | 2016-03-16 |
公开(公告)号: | CN105652483B | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 秦明;张付强;梁红军;刘健;赵正;游维平 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 黄行军 |
地址: | 430070 湖北省武汉市洪*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光纤 传导 液晶屏 光学 参数 测量方法 装置 | ||
1.一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法,其特征在于:通过镜组探头采集液晶屏产生的光学信号,按照测量所采用的标准调节进入镜组探头的入射光的角度,同时对调节角度后的入射光进行会聚,将会聚后的光学信号导入光纤一端,光学信号经光纤另一端传导至检测设备,检测设备对光学信号进行测量,再对测量结果进行校正,得到准确值;
所述镜组探头与光纤一端连接,所述镜组探头包括壳体和位于壳体内同轴依次设置的物镜、光阑和目镜,所述目镜设置在靠近光纤的一端。
2.根据权利要求1所述的一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法,其特征在于:所述物镜和目镜之间的距离为目镜和物镜的焦距之和,所述光纤一端位于目镜的焦点上。
3.根据权利要求1所述的一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法,其特征在于:所述调节进入镜组探头的入射光的角度是通过调整镜组探头内物镜、光阑、目镜之间的距离以及光阑口径的大小来实现,所述对调节角度后的入射光进行会聚是通过调整目镜与光纤端部之间的距离实现。
4.根据权利要求1所述的一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量方法,其特征在于:所述对测量结果进行校正的方法为通过引入校正系数校正。
5.一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量装置,其特征在于:包括
镜组探头,连接在光纤一端,用于采集液晶屏产生的光学信号,并对光学信号进行处理变换后导入光纤一端;所述镜组探头包括壳体和位于壳体内同轴依次设置的物镜、光阑和目镜,所述目镜设置在靠近光纤的一端;
光纤,用于将镜组探头采集处理后的光学信号传导至测量设备;
测量设备,连接光纤另一端,用于检测光纤传导过来的光学信号,并对检测结果进行校正。
6.根据权利要求5所述的一种基于光纤传导的液晶屏光学参数测量装置,其特征在于:所述物镜和目镜之间的距离为目镜和物镜的焦距之和,所述光纤一端位于目镜的焦点上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精测电子集团股份有限公司,未经武汉精测电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610151203.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。