[发明专利]一种自动匹配的多模式的平板探测器校准方法

说明书

本发明提供一种自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，包括：1）配置校准模板匹配机制中的校准影响因子集合；2）基于不同的拍摄图像，从校准影响因子集合中选择合适的校准影响因子及其取值，组合形成多个的校准模式；3）根据当前拍摄图像的各个校准影响因子的当前取值，自动匹配对应的校准模式，对采集到的图像进行校准。本发明将不同的拍摄条件或者方法与不同的校准模式这二者关联对应起来，并提供一种自动匹配的机制，以提高校准的有效性，提升了图像的整体质量。本发明提升了平板探测器图像校准的适应性，使其在不同拍摄条件或者方法下都能得到较为理想的校准效果，进而提升探测器图像的整体质量。本发明具备可配置、易于应用等特点。

技术领域

本发明涉及属于平板探测器的图像校准技术，涉及医疗诊断、工业监测等数字X射线平板探测器的应用领域，特别是涉及一种自动匹配的多模式的平板探测器校准方法。

背景技术

平板探测器是精密电子设备，在使用过程中会产生电子基准漂移现象，需要定期校准，这样才能得到高质量的X线影像。另外，X射线源的不同、探测器内电子线路的不一致性及其正常变化，都会引起平板探测器上不同像元在同样X射线剂量辐射的情况下具有不同的输出信号。

导致以上现象而影响图像的主要因素为：随机噪声，偏置误差，像元响应不一致性和瑕疵像元等。针对以上因素，探测器的图像校准一般包括偏置校准、增益校准、瑕疵校准等过程。

但目前广泛应用的各类校准技术存在适应性不足的问题，具体表现为在不同的拍摄条件下，校准的效果可能存在较大差异，甚至出现校准失效的现象。

鉴于以上所述，提供一种能将不同的拍摄条件或者方法与不同的校准模式这二者关联对应起来的多模式的校准方法实属必要。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，为解决目前业界内平板探测器的校准技术适应性不足的问题，本发明的目的在于提供一种自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，能将不同的拍摄条件或者方法与不同的校准模式这二者关联对应起来，并提供一种自动匹配的机制，以提高校准的有效性，进而提升探测器图像的整体质量。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，包括步骤：步骤1)，配置校准模板匹配机制中的校准影响因子集合；步骤2)，基于不同的拍摄图像，从校准影响因子集合中选择合适的校准影响因子及其取值，组合形成多个的校准模式；步骤3)，根据当前拍摄图像的各个校准影响因子的当前取值，自动匹配对应的校准模式，对采集到的图像进行校准。

作为本发明的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法的一种优选方案，步骤1)中，配置校准模板匹配机制中的校准影响因子集合包括新增、编辑、删除校准影响因子集合中的校准影响因子。

作为本发明的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法的一种优选方案，步骤1)中，校准影响因子包括X射线源电流电压、采集帧频以及采集延迟时间。

作为本发明的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法的一种优选方案，步骤1)还包括对配置好的校准影响因子集合进行存储的步骤。

作为本发明的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法的一种优选方案，步骤2)中，通过拍摄多个不同的图像并生成对应校准模式下的校准模板文件，并对其进行存储；重复该步骤，生成各种常用校准模式下的校准模板文件，其中，所述校准模板文件为校准对应拍摄图像的最合适的校准影响因子及取值的组合。

优选地，所述校准模板文件存储于磁盘上的树形路径下。

作为本发明的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法的一种优选方案，步骤3)中，自动匹配对应的校准模式包括校准模式的完全匹配算法与近似匹配算法。

优选地，所述完全匹配算法为匹配当前拍摄图像各个校准影响因子的当前取值完全吻合的校准模式。