[发明专利]一种自动匹配的多模式的平板探测器校准方法

权利要求书

1.一种自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于，包括步骤：

步骤1)，配置校准模板匹配机制中的校准影响因子集合；

步骤2)，基于不同的拍摄图像，从校准影响因子集合中选择合适的校准影响因子及其取值，组合形成多个的校准模式；

步骤3)，根据当前拍摄图像的各个校准影响因子的当前取值，自动匹配对应的校准模式，对采集到的图像进行校准。

2.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于：步骤1)中，配置校准模板匹配机制中的校准影响因子集合包括新增、编辑、删除校准影响因子集合中的校准影响因子。

3.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于：步骤1)中，校准影响因子包括X射线源电流电压、采集帧频以及采集延迟时间。

4.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于：步骤1)还包括对配置好的校准影响因子集合进行存储的步骤。

5.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于：步骤2)中，通过拍摄多个不同的图像并生成对应校准模式下的校准模板文件，并对其进行存储；重复该步骤，生成各种常用校准模式下的校准模板文件，其中，所述校准模板文件为校准对应拍摄图像的最合适的校准影响因子及取值的组合。

6.根据权利要求5所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于：所述校准模板文件存储于磁盘上的树形路径下。

7.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于：步骤3)中，自动匹配对应的校准模式包括校准模式的完全匹配算法与近似匹配算法。

8.根据权利要求7所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于：所述完全匹配算法为匹配当前拍摄图像各个校准影响因子的当前取值完全吻合的校准模式。

9.根据权利要求7所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于：所述近似匹配算法为先挑选出备选的多个校准模式，再计算出各自的近似度，最终选取近似度最高的校准模式作为当前模式。