[发明专利]一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法在审
申请号: | 201610059148.1 | 申请日: | 2016-01-28 |
公开(公告)号: | CN105525268A | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
发明(设计)人: | 叶建东;程丽娜;朱顺明;汤琨;任芳芳;顾书林;郑有炓 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06;C23C14/02;C23C14/58 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈建和 |
地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 znon 薄膜 迁移率 稳定性 方法 | ||
1.一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,其特征在于,包括以下步骤:采用 三明治结构的ZnON薄膜,三明治结构基底上的夹层为富氮ZnON薄膜,夹层上部的 覆盖层为富氧ZnON薄膜,采用反应射频磁控溅射制备三明治结构的ZnON薄膜(异 质结),以纯度为99.999%的锌靶为溅射靶材,以氩气、氮气、氧气的混合气体为溅射气 体,生长ZnON薄膜前溅射室的背景真空度小于2×10-7Torr,以排净溅射室中的空气, 射频功率为120-300W,衬底温度为室温至100℃,生长ZnON薄膜前对高纯锌靶材利用 氩离子束预溅射5-15分钟;通过两步反应射频磁控溅射生长的方法,第一步:氩气、氮 气、氧气的流量分别为20sccm、100sccm、0.8-5sccm,薄膜厚度为20-150纳米,第一步 生长得到一层富氮的ZnON薄膜;第二步:氩气、氮气、氧气的流量分别为20sccm、 100sccm、8-20sccm,第二步生长得到一层富氧的ZnON薄膜,薄膜层厚为5-30纳米。
2.根据权利要求1所述的提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,其特征在于:所 述溅射气体的纯度均为99.999%。
3.根据权利要求2所述的提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,其特征在于:在 溅射的过程中,溅射室压强保持为4-20mTorr。
4.根据权利要求2所述的提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,其特征在于:所 述生长ZnON薄膜前预溅射的功率为120-300W。
5.根据权利要求1所述的提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,其特征在于: 三明治结构中夹层富氮ZnON和覆盖层富氧ZnON的氮气和氩气流量固定为100sccm 和20sccm,氧气流量分别为0.8-5sccm和8-20sccm。
6.根据权利要求1所述的提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,其特征在于:对 生长的ZnON薄膜在不同气氛、不同温度下进行退火处理,所述的不同气氛为氮气、真 空、一氧化二氮和氧气;所述的不同温度为250℃-500℃。
7.根据权利要求1所述的提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,其特征在于:退 火时间均为60分钟,升温速率为30℃/min,自然冷却至室温。
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