[发明专利]一种单颗粒独居石的双测年方法

权利要求书

1.一种单颗粒独居石的双测年方法，其特征在于：包括以 下步骤：

(1)选择晶型完整且不含包裹体的单颗粒独居石，借助数 码相机拍照，获得独居石颗粒精确的形状和尺寸，用于计算α粒 子射出校正参数F_T，计算公式为：

FT=1-3S4R+S316R3]]>

其中F_T：α粒子射出校正参数；S：独居石中U和Th发生衰 变时α粒子的停止距离；R：单颗粒独居石晶体的内切球半径， 为了更加精确地计算F_T，R的值最好为60-70μm；

(2)将单颗粒独居石固定在双面胶带上，用激光剥蚀电感 耦合等离子质谱仪(LA-ICPMS)进行U-Pb测年；用激光直接照 射独居石颗粒的外表面，束斑半径为20μm，烧蚀坑的深度为约 20μm；对于年龄小于1300Ma的独居石，采用²⁰⁶Pb/²³⁸U来代表 其U-Pb年龄；对于年龄大于1300Ma的独居石，采用²⁰⁷Pb/²⁰⁶Pb 来代表其U-Pb年龄；

(3)把上述单颗粒独居石剥离下来，放入1mm³金属箔容器 中，用激光加热至1300℃，持续20分钟，将独居石中的99％以 上的⁴He释放出来；用10ncc(1ncc＝1×10^-9ml)的³He对释放出 来的⁴He进行稀释，用活性炭对⁴He和³He进行聚集和深低温(16K) 纯化；然后用四极质谱仪(QMS)在静态模式下测量⁴He/³He的比 值，获得⁴He的含量；

(4)将释放出⁴He之后的独居石放入经过校准的²³³U和²²⁹Th 溶液中，加入30％的硝酸进行溶解，然后用等离子质谱仪(ICPMS) 测量²³⁸U/²³³U、²³⁵U/²³³U和²³²Th/²²⁹Th的比值，获得²³⁸U、²³⁵U和²³²Th 的含量；

(5)根据下式计算出(U-Th)/He年龄；

N4He=8·N238U·(eλ8·t-1)+7·N235U·(eλ5·t-1)+6·N232Th·(eλ2·t-1)]]>

其中：测得的⁴He的原子数；测得的²³⁸U的原子 数；测得的²³⁵U的原子数；测得的²³²Th的原子数； λ₈：²³⁸U的衰变常数；λ₅：²³⁵U的衰变常数；λ₂：²³²Th的衰变常数； t：衰变持续的时间，即(U-Th)/He年龄；

(6)根据α粒子射出校正参数对测量值进行校正；

T=TmFT]]>

其中：T：经过校正的(U-Th)/He年龄；T_m：测量获得的 (U-Th)/He年龄；F_T：α粒子射出校正参数。