[发明专利]显示面板及其制备方法和检测方法有效
申请号: | 201610041791.1 | 申请日: | 2016-01-21 |
公开(公告)号: | CN105511126B | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 李晓光;汪栋;肖宇;姜晶晶;冯贺 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 汪源;陈源 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 及其 制备 方法 检测 | ||
1.一种显示面板,其特征在于,包括:阵列基板和对盒基板,所述阵列基板包括:第一衬底基板,所述第一衬底基板上设置有第一基准标记和通过阵列基板制程依次形成的若干层第一结构层,所述对盒基板包括:第二衬底基板,所述第二衬底基板上设置有与所述第一基准标记对应的第二基准标记和通过对盒基板制程依次形成的若干层第二结构层,所述第一基准标记和所述第二基准标记的材料均为荧光材料;
所述第一基准标记和所述第二基准标记被第一激活光线照射发出不同颜色的光。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述阵列基板中的至少一层所述第一结构层为第一待检测结构层,所述第一待检测结构层上对应所述第一基准标记的位置形成有第一检测标记,所述第一检测标记的材料为荧光材料;
和/或,所述对盒基板中的至少一层所述第二结构层为第二待检测结构层,所述第二待检测结构层上对应所述第二基准标记的位置形成有第二检测标记,所述第二检测标记的材料为荧光材料。
3.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,当所述阵列基板中的至少一层所述第一结构层为第一待检测结构层时,各所述第一检测标记和所述第一基准标记在被第二激活光线照射后发出的光的颜色均不同。
4.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,当所述对盒基板中的至少一层所述第二结构层为第二待检测结构层时,各所述第二检测标记和所述第二基准标记在被第三激活光线照射后发出的光的颜色均不同。
5.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第一基准标记位于所述第一衬底基板朝向所述第二衬底基板的一侧,所述第二基准标记位于所述第二衬底基板朝向所述第一衬底基板的一侧。
6.一种显示面板的制备方法,其特征在于,包括:
在第一衬底基板上形成第一基准标记,所述第一基准标记的材料为荧光材料;
通过阵列基板制程在所述第一衬底基板上依次形成若干层第一结构层,以制备出阵列基板;
在第二衬底基板上形成与所述第一基准标记对应的第二基准标记,所述第二基准标记的材料为荧光材料;
通过对盒基板制程在所述第二衬底基板上依次形成若干层第二结构层,以制备出对盒基板;
将所述阵列基板和所述对盒基板进行对盒处理;
所述第一基准标记和所述第二基准标记被第一激活光线照射发出不同颜色的光。
7.根据权利要求6所述的显示面板的制备方法,其特征在于,
至少一层所述第一结构层为第一待检测结构层,所述通过阵列基板制程在所述第一衬底基板上依次形成若干层第一结构层的过程中,每形成一层所述第一待检测结构层之后,在所述第一待检测结构层上对应所述第一基准标记的位置形成第一检测标记,所述第一检测标记的材料为荧光材料;
和/或,至少一层所述第二结构层为第二待检测结构层,所述通过对盒基板制程在所述第二衬底基板上依次形成若干层第二结构层的过程中,每形成一层所述第二待检测结构层之后,在所述第二待检测结构层上对应所述第二基准标记的位置形成第二检测标记,所述第二检测标记的材料为荧光材料。
8.一种显示面板的检测方法,其特征在于,所述显示面板包括:阵列基板和对盒基板,所述阵列基板包括:第一衬底基板,所述第一衬底基板上设置有第一基准标记和通过阵列基板制程依次形成的若干层第一结构层,所述对盒基板包括:第二衬底基板,所述第二衬底基板上设置有与所述第一基准标记对应的第二基准标记和通过对盒基板制程依次形成的若干层第二结构层,所述第一基准标记和所述第二基准标记的材料均为荧光材料;
所述显示面板的检测方法包括:
采用第一激活光线照射所述第一基准标记和所述第二基准标记,以使得第一基准标记和第二基准标记发光;
根据所述第一基准标记和所述第二基准标记的相对位置来检测所述阵列基板和所述对盒基板的对位程度;
所述第一基准标记和所述第二基准标记被所述第一激活光线照射发出不同颜色的光。
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