[发明专利]用于内部缺陷检测的检测电路及系统

权利要求书

1.一种用于内部缺陷检测的检测电路，其特征在于，包括：

传感器、减法电路、低通滤波电路、第一信号放大器、高通滤波电路；

所述传感器包括补偿线圈；

所述传感器的信号传输至所述减法电路，所述减法电路的输出信号传输至所述低通滤波电路，所述低通滤波电路的输出信号经过第一信号放大器放大之后，反向输入至所述补偿线圈，形成负反馈电路；

之后，所述传感器的信号传输至所述高通滤波电路，滤波后得到缺陷信号。

2.如权利要求1所述的用于内部缺陷检测的检测电路，其特征在于，所述高通滤波电路连接第二信号放大器，将所述缺陷信号传输至第二信号放大器。

3.如权利要求2所述的用于内部缺陷检测的检测电路，其特征在于，所述第二信号放大器连接偏置电路，将放大后的缺陷信号传输至所述偏置电路。

4.如权利要求3所述的用于内部缺陷检测的检测电路，其特征在于，所述偏置电路与信号采集卡、数据处理单元依次连接。

5.如权利要求1所述的用于内部缺陷检测的检测电路，其特征在于，所述传感器为磁敏探头，所述磁敏探头安装于磁化装置上，且位于标定样板的下方。

6.如权利要求1所述的用于内部缺陷检测的检测电路，其特征在于，所述高通滤波电路的截止频率由被检测的钢板速度来控制。

7.一种用于内部缺陷检测的检测系统，其特征在于，包括：

多个传感器、多个减法器、多个滤波器及信号采集卡；

所述多个传感器进行两两配对，每一对传感器分别将输出信号传输至减法器；

每一个减法器将输出信号传输至滤波器；

所有滤波器将输出信号传输至所述信号采集卡。

8.如权利要求7所述的用于内部缺陷检测的检测系统，其特征在于，所述减法器的数量与滤波器的数量相同。

9.如权利要求7所述的用于内部缺陷检测的检测系统，其特征在于，所述信号采集卡连接至数据处理单元。

10.如权利要求7所述的用于内部缺陷检测的检测系统，其特征在于，所述传感器为磁敏探头，所述磁敏探头安装于磁化装置上，且位于标定样板的下方。