[发明专利]X射线平面探测器的空间分辨率测量装置

说明书

技术领域

本发明属于像质评价领域，具体涉及一种X射线平面探测器的空间分辨率测量装置。

背景技术

在等离子体诊断、无损检测、医学成像等方面的研究与应用中，人们广泛采用X射线平面探测器作为是X射线成像系统的记录介质。空间分辨率是评价X射线平面探测器成像性能最重要的指标之一。通常X射线平面探测器的空间分辨率测量装置包括：X射线源、分辨率板、滤片和X射线平面探测器，测量方式有两种，第一种方式是：分辨率板紧贴在X射线平面探测器感光面上，通过X射线源辐照分辨率板即可获得X射线平面探测器的空间分辨率。该方法可以准确测得空间分辨率，但是因分辨率板与感光面直接接触，容易造成X射线平面探测器的感光面永久性损伤，特别是当X射线平面探测器感光面施加高压时，极易发生打火放电；第二种方式是：所述的分辨率板远离X射线平面探测器感光面一定距离，该设置下分辨率板充当了成像元件，X射线平面探测器感光面上的空间频率与设置值必然出现偏差，导致X射线平面探测器的空间分辨率测量结果不准确。此外，通常X射线平面探测器的空间分辨率测量装置必须使用高线对密度的分辨率板，以获得X射线平面探测器的极限空间分辨率。然而，当分辨率板的线对密度值大于20Lp/mm时，线条和间距宽度仅小于25μm，难以制作。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种X射线平面探测器的空间分辨率测量装置。

一种X射线平面探测器的空间分辨率测量装置，包括X射线发生装置、分辨率板、滤片和X射线平面探测器，其特点是，分辨率板和X射线平面探测器之间设有针孔，X射线发生装置发出的中心光线依次穿过分辨率板的中心、滤片的中心、针孔、X射线平面探测器的感光面的中心。

所述的分辨率板通过杆架I固定在平移台I上，平移台I固定在腔体的下表面，平移台I沿光路方向直线运动；所述的滤片通过杆架Ⅱ固定在平移台II上，基板上开有圆形的针孔，基板通过杆架III固定在平移台II上，平移台II固定在腔体的下表面，平移台II沿光路方向直线运动；所述的腔体的一端与X射线发生装置连接，另一端与X射线平面探测器连接。

所述的X射线发生装置为X射线管、同步辐射装置、激光打靶装置、Z-pinch装置中的一种。

所述的X射线平面探测器的感光面为平面结构，X射线平面探测器为条纹相机、门控分幅相机、像增强器、闪烁体辐射探测器、ICCD、微光夜视仪中的一种。

所述的分辨率板由渐变线对密度的线对束或单一线对密度的线对束构成，线对密度值小于等于10.0Lp/mm，线条材料为钽、钨、金、铂、铅中的一种。

所述的滤片材料为铍、碳、镁、铝、钛、钒、铁、镍、铜、锌中的一种。

所述的基板材料为钽、钨、金、铂、铅中的一种。

与现有技术相比，本发明具有以下优点：

1. 本发明的分辨率板、针孔、X射线平面探测器构成针孔成像系统，分辨率板作为“物”被针孔成像到X射线平面探测器的感光面上，生成的“像”具有线对束结构，因此分辨率板无需直接接触X射线平面探测器的感光面，不损伤X射线平面探测器的感光面；

2. 由于X射线平面探测器的感光面上的“像”的线对密度等于分辨率板的线对密度除以针孔成像系统的放大倍数M，调节平移台I或平移台II，设置M小于1，即可利用低线对密度的分辨率板获得高线对密度的“像”，因此本发明无需使用高线对密度的分辨率板，降低了分辨率板制作难度；

3. 通过调节平移台I、平移台II，改变针孔成像系统的放大倍数M，或者使用渐变线对密度的分辨率板，容易实现X射线平面探测器的感光面上的“像”的线对密度在0.5lp/mm~50lp/mm区间由小到大连续变化，拓展了线对密度的上限，可以准确判断X射线平面探测器恰好不能分辨的线对密度，提高了极限空间分辨率的测量准确度。

本发明的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置提高了测量准确度，降低了分辨率板制作难度，且不损伤X射线平面探测器的感光面。

附图说明

图1为本发明的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置的结构示意图；

图2为10.0Lp/mm分辨率板的示意图；

图3为扇形分辨率板的示意图；

图中，1.X射线管 2.腔体 3.分辨率板 4.杆架Ⅰ 5.平移台Ⅰ 6.滤片 7.杆架Ⅱ 8.平移台Ⅱ 9.基板 10.杆架Ⅲ 11.针孔 12.阴极微带 13.分幅变像管 14.CCD相机 15.中心光线。

具体实施方式

下面结合附图和实施例具体说明本发明。