[发明专利]X射线平面探测器的空间分辨率测量装置有效
| 申请号： | 201610028408.9 | 申请日： | 2016-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN105516715B | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | 杨志文;刘慎业;陈韬;袁铮;李晋;黎宇坤;高扬;余建;董建军 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心51210 | 代理人： | 翟长明,韩志英 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射线 平面 探测器 空间 分辨率 测量 装置 | ||
1.一种X射线平面探测器的空间分辨率测量装置，包括X射线发生装置、分辨率板(3)、滤片(6)和X射线平面探测器，其特征在于，分辨率板(3)和X射线平面探测器之间设有针孔(11)，X射线发生装置发出的中心光线(15)依次穿过分辨率板(3)的中心、滤片(6)的中心、针孔(11)、X射线平面探测器的感光面的中心；
所述的分辨率板(3)通过杆架I(4)固定在平移台I(5)上，平移台I(5)固定在腔体(2)的下表面，平移台I(5)沿光路方向直线运动；所述的滤片(6)通过杆架Ⅱ(7)固定在平移台II(8)上，基板(9)上开有圆形的针孔(11)，基板(9)通过杆架III(10)固定在平移台II(8)上，平移台II(8)固定在腔体(16)的下表面，平移台II(8)沿光路方向直线运动；所述的腔体(2)的一端与X射线发生装置连接，另一端与X射线平面探测器连接。
2.根据权利要求1所述的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置，所述的X射线发生装置为X射线管、同步辐射装置、激光打靶装置、Z-pinch装置中的一种。
3.根据权利要求1所述的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置，所述的X射线平面探测器的感光面为平面结构，X射线平面探测器为条纹相机、门控分幅相机、像增强器、闪烁体辐射探测器、ICCD、微光夜视仪中的一种。
4.根据权利要求1所述的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置，所述的分辨率板(3)由渐变线对密度的线对束或单一线对密度的线对束构成，线对密度值小于等于10.0Lp/mm，线条材料为钽、钨、金、铂、铅中的一种。
5.根据权利要求1所述的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置，所述的滤片(6)材料为铍、碳、镁、铝、钛、钒、铁、镍、铜、锌中的一种。
6.根据权利要求1所述的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置，所述的基板(9)材料为钽、钨、金、铂、铅中的一种。
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