[发明专利]探针卡检测方法在审
申请号: | 201610024779.X | 申请日: | 2016-01-15 |
公开(公告)号: | CN105699834A | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 谢晋春;辛吉升 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探针 检测 方法 | ||
1.一种探针卡检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1,利用测试仪,探针台,光面铝片构建探针卡检测硬件环境;把 要检验的探针卡通道信息存储在探针卡检测库中,在探针卡检测程序中建 立要检验的探针卡特性良好的判断标准,符合规格标准,异常标准,OD量 变化范围;
步骤2,通过测试仪控制探针台OD量从小到大变化,每次变化后,进 行扎针测试,得到每个探针的接触电阻结果;
步骤3,探针卡检测程序对测试结果进行分析,并提供相应的结论及建 议。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述光面铝片为6英寸, 8英寸,12英寸或12英寸以上。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述探针卡检测库中还存 储有DUT信息。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:如果OD量设置到最大时, 仍有异常的探针卡通道,则在测试结果中显示提醒,维修后提供产线使用。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于:如果OD量设置到最大时, 发现符合规格的探针卡通道超过一定数量,在测试结果中显示提醒保养, 保养后提供产线使用。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于:如果OD量设置为非最大 值时,符合特性良好规格的探针卡通道超过一定数量;或者OD量设置到最 大时,所有探针卡通道符合特性良好,在测试结果显示探针卡直接用于量 产,直接提供产线使用。
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