[发明专利]TFT基板的制作方法有效
申请号: | 201610020660.5 | 申请日: | 2016-01-13 |
公开(公告)号: | CN105514034B | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 徐向阳 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制作 氧化物半导体层 基板 源/漏极 保护层 沟道保护层 蚀刻阻挡层 公共电极 蚀刻制程 像素电极 栅极表面 直接制作 层绝缘 缓冲层 数据线 信赖性 制作源 漏极 制程 损伤 腐蚀 覆盖 | ||
1.一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1、提供基板(1),在所述基板(1)上沉积第一透明导电层,对所述第一透明导电层进行图案化处理,形成像素电极(2);
步骤2、在所述基板(1)、像素电极(2)上沉积第一金属层,对所述第一金属层进行图案化处理,形成源/漏极(3)、数据线(31),所述数据线(31)具有形成于基板(1)的周边区域的数据线端子(312);
步骤3、在所述基板(1)、像素电极(2)、源/漏极(3)、数据线(31)上沉积沟道保护层(4);在所述沟道保护层(4)上对应所述源/漏极(3)上方形成第一过孔(41);
步骤4、在所述沟道保护层(4)、源/漏极(3)上沉积氧化物半导体层,对所述氧化物半导体层进行图案化处理,形成有源层(5);所述有源层(5)经由所述第一过孔(41)与所述源/漏极(3)相接触;
步骤5、在所述沟道保护层(4)、有源层(5)上沉积栅极绝缘层(6);
步骤6、在所述栅极绝缘层(6)上沉积第二金属层,对所述第二金属层进行图案化处理,形成栅极(7)、及栅极扫描线(71),所述栅极扫描线(71)具有形成于基板(1)的周边区域的扫描线端子(712);在所述沟道保护层(4)、及栅极绝缘层(6)上对应所述数据线端子(312)上方形成第二过孔(8);
步骤7、在所述栅极绝缘层(6)、栅极(7)、及栅极扫描线(71)上沉积第二透明导电层,对所述第二透明导电层进行图案化处理,形成公共电极(9)、分别覆盖于栅极(7)与栅极扫描线(71)上方的保护层(91)、以及经由所述第二过孔(8)与所述数据线端子(312)相接触的连接导线(92)。
2.如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一透明导电层、第二透明导电层的厚度为所述第一金属层、第二金属层的厚度为
3.如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述沟道保护层(4)的厚度为所述栅极绝缘层(6)的厚度为所述有源层(5)的厚度为
4.如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一透明导电层、第二透明导电层的材料为ITO或IZO;所述第一金属层、第二金属层的材料为Cr、Mo、Al、或Cu。
5.如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述沟道保护层(4)的材料为氧化硅;所述栅极绝缘层(6)的材料为氧化硅、氮化硅或二者的组合;所述有源层(5)的材料为ZnO、InZnO、ZnSnO、GaInZnO、或ZrInZnO。
6.一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1、提供基板(1),在所述基板(1)上沉积缓冲层(10);
步骤2、在所述缓冲层(10)上沉积第一透明导电层,对所述第一透明导电层进行图案化处理,形成像素电极(2);
步骤3、在所述缓冲层(10)、像素电极(2)上沉积第一金属层,对所述第一金属层进行图案化处理,形成源/漏极(3)、数据线(31),所述数据线(31)具有形成于基板(1)的周边区域的数据线端子(312);
步骤4、在所述缓冲层(10)、像素电极(2)、源/漏极(3)、数据线(31)上沉积氧化物半导体层,对所述氧化物半导体层进行图案化处理,形成有源层(5);所述有源层(5)与所述源/漏极(3)相接触;
步骤5、在所述缓冲层(10)、像素电极(2)、源/漏极(3)、数据线(31)、有源层(5)上沉积栅极绝缘层(6);
步骤6、在所述栅极绝缘层(6)上沉积第二金属层,对所述第二金属层进行图案化处理,形成栅极(7)、及栅极扫描线(71),所述栅极扫描线(71)具有形成于基板(1)的周边区域的扫描线端子(712);在所述栅极绝缘层(6)上对应所述数据线端子(312)上方形成第三过孔(81);
步骤7、在所述栅极绝缘层(6)、栅极(7)、及栅极扫描线(71)上沉积第二透明导电层,对所述第二透明导电层进行图案化处理,形成公共电极(9)、分别覆盖于栅极(7)与栅极扫描线(71)上方的保护层(91)、以及经由所述第三过孔(81)与所述数据线端子(312)相接触的连接导线(92)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造