[发明专利]晶体管特性图示仪校准装置

说明书

本发明涉及一种校准装置，尤其是一种晶体管特性图示仪校准装置，属于晶体管特性图示仪校准的技术领域。本发明包括用于对晶体管特性图示仪进行集电极电流扫描因数、功耗限制电阻校准的恒流电子负载电路以及用于对晶体管特性图示仪进行基极电压扫描因数校准的恒压电子负载电路，所述恒流电子负载电路、恒压电子负载电路均与校准选择控制电路连接，所述校准选择控制电路的输入端与校准选择电路连接，恒流电子负载电路、恒压电子负载电路能通过校准连接电路与待校准的晶体管特性图示仪连接；本发明结构紧凑，能实现对现有无校准插孔晶体管特性图示仪的有效校准，使用方便，适应范围广，安全可靠。

技术领域

本发明涉及一种校准装置，尤其是一种晶体管特性图示仪校准装置，属于晶体管特性图示仪校准的技术领域。

背景技术

目前，常用的国产晶体管特性图示仪受到国内计量法规的约束，其在设计和生产过程中就考虑到了校准需求，通常留有专门用于校准仪器连接的校准插孔。随着外资企业的进驻，技术新颖、性能优良的晶体管特性图示仪不断出现，例如：tektronix公司生产的370A、370B、371、572、576型晶体管特性图示仪；KDKUYO公司的SCT-5FR型晶体管特性图示仪等。外资生产的晶体管特性图示仪价格较高，没有结构图，没有原理线路图，也没有预留校准插孔，因此，无法用我国现在最权威的校准方法（中华人民共和国计量技术规范JJF1236-2010《半导体管特性图示仪校准规范》）进行校准。

现行校准规范在校准Y轴集电极电流扫描因数、功耗限制电阻和X轴基极电压扫描因数时，必须将外部校准电源引入晶体管特性图示仪的测试点或打开机壳将校准电源连接在特定的电路点上，以进行检测；但进行上述校准过程存在以下缺点：

1）、打开晶体管特性图示仪的机壳进行校准时会对人身安全构成威胁：tektronix公司的371型图示仪扫描电压能达到3000伏。打开晶体管特性图示仪，在没有电路图的情况下要找到集电极电压扫描端的集电极电流取样电阻、功耗电阻并不容易，并且不同型号的图示仪电路结构也并不一样。

2）、将标准直流电压源或电流源加于晶体管特性图示仪的集电极（或基极，或扫描箱）上，由于标准直流电压源、标准直流电流源与晶体管特性图示仪的电源特性，极可能导致晶体管特性图示仪或校准直流电压源、标准直流电流源的损坏；它们的电力可能击毁被连接的设备，或由于电源的外部连接短路、或有负电源而使电源本身损坏。

此外，晶体管特性图示仪内的集电极扫描电源是不能完全关断的，只能调到最小，有时最小电压竟也高达几十伏，另外有些型号的晶体管特性图示仪内的集电极扫描电源根本就不能手动调节。在有的晶体管特性图示仪中，功耗限制电阻是经过接触器进行间接连接的，所以在进行校准时，电源开关还不能关闭，这就对测量功耗电阻带来了风险，因为一旦集电极扫描电源有残余将会击毁数字式多用表的电阻档。

因此，用常用的方法无法完成这种晶体管特性图示仪的校准，亟需研究一种新的测量方法来对此类仪器进行校准。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种晶体管特性图示仪校准装置，其结构紧凑，能实现对现有无校准插孔晶体管特性图示仪的有效校准，使用方便，适应范围广，安全可靠。

按照本发明提供的技术方案，所述晶体管特性图示仪校准装置，包括用于对晶体管特性图示仪进行集电极电流扫描因数校准、功耗限制电阻校准的恒流电子负载电路以及用于对晶体管特性图示仪进行基极电压扫描因数校准的恒压电子负载电路，所述恒流电子负载电路、恒压电子负载电路均与校准选择控制电路连接，所述校准选择控制电路的输入端与校准选择电路连接，恒流电子负载电路、恒压电子负载电路能通过校准连接电路与待校准的晶体管特性图示仪连接；

所述校准选择电路能向校准选择控制电路输入对待校准晶体管特性图示仪的校准类型，校准选择控制电路能选择并启动与校准类型相匹配的恒流电子负载电路或恒压电子负载电路，以利用启动的恒流电子负载电路或恒压电子负载电路对晶体管特性图示仪进行所需的校准。