[发明专利]晶体管特性图示仪校准装置

权利要求书

1.一种晶体管特性图示仪校准装置，其特征是：包括用于对晶体管特性图示仪（7）进行集电极电流扫描因数校准、功耗限制电阻校准的恒流电子负载电路（4）以及用于对晶体管特性图示仪（7）进行基极电压扫描因数校准的恒压电子负载电路（5），所述恒流电子负载电路（4）、恒压电子负载电路（5）均与校准选择控制电路（2）连接，所述校准选择控制电路（2）的输入端与校准选择电路（3）连接，恒流电子负载电路（4）、恒压电子负载电路（5）能通过校准连接电路（6）与待校准的晶体管特性图示仪（7）连接；

所述校准选择电路（3）能向校准选择控制电路（2）输入对待校准晶体管特性图示仪（7）的校准类型，校准选择控制电路（2）能选择并启动与校准类型相匹配的恒流电子负载电路（4）或恒压电子负载电路（5），以利用启动的恒流电子负载电路（4）或恒压电子负载电路（5）对晶体管特性图示仪（7）进行所需的校准；在利用恒流电子负载电路（4）对待校准的晶体管特性图示仪（7）校准时，晶体管特性图示仪校准装置的校准电压连接端U_in与晶体管特性图示仪（7）的集电极连接端C连接，所述晶体管特性图示仪（7）的发射极连接端E与晶体管特性图示仪校准装置的校准接地端连接；以及校准时，调节集电极扫描电源，并使得恒流电子负载电路（4）输出的电流慢慢上升，即集电极扫描电源输出的电压即为加载到校准电压连接端的校准电压；当达到恒流电子负载电路（4）设的恒流设定值时，电流就不随集电极扫描电源的变化而变化；

利用恒压电子负载电路（5）对晶体管特性图示仪（7）进行基极电压扫描系数校准时，将晶体管特性图示仪校准装置（1）的校准电压连接端U_in、校准接地端分别与晶体管特性图示仪（7）的基极连接端B、发射极连接端E对应连接；以及调节恒压电子负载电路（5）恒压值在0.01V～0.1V或1V～10V，比较恒压电子负载电路（5）的恒压值与所述晶体管特性图示仪（7）屏幕显示值即能确定基极电压扫描因数的准确度。

2.根据权利要求1所述的晶体管特性图示仪校准装置，其特征是：所述恒流电子负载电路（4）、恒压电子负载电路（5）与校准连接电路（6）匹配形成的连接端包括校准电压连接端U_in、参考电压连接端U_REF以及校准接地端；

所述恒流电子负载电路（4）包括运算放大器U1、功率管M1以及可变电阻R5，所述运算放大器U1的同相端与参考电压连接端U_REF连接，运算放大器U1的反相端与功率管M1的源极端连接，运算放大器U1的输出端与功率管M1的栅极端连接，所述功率管M1的漏极端与校准电压连接端U_in连接，功率管M1的源极端还通过可变电阻R5接地；

在利用恒流电子负载电路（4）对待校准的晶体管特性图示仪（7）校准时，所述校准电压连接端U_in与晶体管特性图示仪（7）的集电极连接端C连接，所述晶体管特性图示仪（7）的发射极连接端E与校准接地端连接。

3.根据权利要求2所述的晶体管特性图示仪校准装置，其特征是：所述恒压电子负载电路（5）包括运算放大器U2以及功率管M2，所述运算放大器U2的反相端与滑动变阻器R4的可动端连接，滑动变阻器R4的一端与电阻R2的一端、电阻R3的一端、运算放大器U2的同相端以及负载电压连接，所述滑动变阻器R4的另一端接地，电阻R3的另一端接地，电阻R2的另一端与功率管M2的漏极端连接，运算放大器U2的输出端与功率管M2的栅极端连接，功率管M2的漏极端还与校准电压连接端U_in连接，功率管M2的源极端接地。

4.根据权利要求2所述的晶体管特性图示仪校准装置，其特征是：所述恒流电子负载电路（4）的恒流范围为0.1mA~20A，参考电压连接端U_REF上加载的电压为0.1V~1V。