[发明专利]虹膜产品老化测试方法和装置

说明书

本发明公开了一种虹膜产品老化测试方法和装置，属于电子技术领域，所述方法包括：步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。与现有技术相比，本发明中，在进行产品的功能测试时，充分利用了虹膜产品的等待或空运行的时间，剔除了在进行产品的功能测试时的空闲状态，使虹膜产品实时处于一种高强度的运行状态，从而达到较为彻底的老化。同时，本发明还省去了硬件测试和功能测试的分离，减少了生产环节的劳动，提高了生产效率。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别是指一种虹膜产品老化测试方法和装置。

背景技术

对于电子产品，其中最关键的部分就是控制电路或功能电路，而控制电路或功能电路又是由不同的电子元器件组成的。电子产品通过生产制造后，形成了完整的产品，已经可以发挥使用价值了，但使用以后发现会有这样或那样的毛病，又发现这些毛病绝大部分发生在开始的几小时至几十小时之内，通过老化测试后，把有问题的产品留在工厂，没问题的产品给用户，以保证卖给用户的产品是可靠的或者是问题较少的，这就是产品老化测试的意义。老化测试使产品的缺陷在出厂前暴露，如焊接点的可靠性、所选电子元器件的可靠性；老化测试使产品性能进入稳定区间后出厂，减少返修率。

现有技术中的老化测试过程一般是将一段老化程序写入电子产品中，然后运行老化程序，老化测试完毕后擦除老化程序，最后写入电子产品的出厂程序。而现有技术中的老化程序只是对电子元器件和硬件功能部件进行测试，并没有对产品出厂程序的各个功能进行检测。对产品出厂程序功能检测将会在老化程序结束后进行。

现有技术存在的问题是：

1.最佳的产品老化测试要使电子产品的工作强度大于正常工作时候的强度，这样才能充分发挥老化的作用。而现有技术中的老化程序仅仅是对电子元器件和硬件功能部件的测试，并不能使电子产品处于一种高强度的运行状态。不仅如此，在对电子产品出厂程序的功能检测时，电子产品在没有输入时，大部分时间内电子产品一直处于等待或空运行的空闲状态中，没有达到所要求的强度。综合上述原因，现有技术中无法实现较为彻底的产品老化；

2.老化程序和出厂程序是两套程序，对产品出厂程序的功能检测在老化程序结束后进行，老化测试完成后，需要被删除，然后重新写入出厂程序。由于老化程序和出厂程序是分开进行的，处于生产过程中的不同环节，这样就加重了生产环节不必要的劳动；

3.老化程序仅仅是对电子元器件和硬件功能部件的测试，老化测试完成后，才对产品出厂程序的功能进行单独的测试。步骤繁琐，生产效率低。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种能够实现较为彻底的老化、减少生产劳动、提高生产效率的电子产品老化测试方法和装置。

为解决上述技术问题，本发明提供技术方案如下：

一种电子产品老化测试方法，包括：

步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；

步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；

步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。

一种电子产品老化测试装置，包括：

判断模块：用于判断是否到达预设条件，如果是，转至硬件测试模块，否则，转至功能测试模块；

硬件测试模块：用于根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至判断模块；

功能测试模块：用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至判断模块。