[发明专利]虹膜产品老化测试方法和装置

权利要求书

1.一种虹膜产品老化测试方法，其特征在于，包括：

步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；

步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；其中，对虹膜产品的电子元器件和硬件部件完成一次测试后，转至步骤1，或者，根据测试的需要，对电子元器件和硬件部件进行部分测试，即测试完一个或几个电子元器件和/或硬件部件后，对当前的测试进度进行标记，然后转至步骤1，当再一次转至本步骤时，从标记的位置开始测试；所述电子元器件包括Flash、DDR2、生物特征采集传感器、蜂鸣器、LED指示灯和补光灯；

步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1；其中，完成一次功能测试后，转至步骤1，或者，在测试完一个或几个功能后，对当前的测试进度进行标记，然后转至步骤1，当再一次转至本步骤时，从标记的位置开始测试；其中，所述输入为生物特征输入，所述进行产品的功能测试包括对生物特征数据执行特征提取和比对识别测试；

其中，所述预设条件为预设标志位为第一约定值；

所述步骤1进一步为：判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还是第三约定值，如果是第一约定值，转至步骤2，如果是第二约定值，转至步骤31，如果是第三约定值，转至步骤32；

所述步骤3包括：

步骤31：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，然后转至步骤1；

步骤32：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，然后转至步骤1；

所述步骤1之前还包括：

步骤10：开始计时；

步骤11：判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至步骤12，否则转至步骤1；

步骤12：更新预设标志位的数值，然后转至步骤10；

其中，预设标志位的初始值为第一约定值，当定时时间没到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当定时时间到达，更新预设标志位的数值为第二约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的产品的单元功能测试流程，同时开始计时；当定时时间到达，更新预设标志位的数值为第三约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的产品的正常功能的测试，同时开始计时；当定时时间到达，更新预设标志位的数值为第一约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的电子元器件和硬件部件的测试，依此循环。

2.根据权利要求1所述的虹膜产品老化测试方法，其特征在于，

所述步骤2包括：在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前测试信息；

所述步骤3包括：在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息；

所述当前测试信息包括：测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。