[发明专利]电子装置在审

专利信息
申请号: 201580082233.3 申请日: 2015-08-06
公开(公告)号: CN107924890A 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: K.E.吴;W.C.赵;C.K.林;M.卡利德 申请(专利权)人: 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司
主分类号: H01L23/373 分类号: H01L23/373
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 王岳,刘春元
地址: 德国雷*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电子 装置
【权利要求书】:

1.一种电子装置(100),包括载体(105)和半导体芯片(140),

其中载体(105)包括第一介电层(110)和第二介电层(120),

其中第一介电层(110)的热导率超过第二介电层(120)的热导率,

其中第二介电层(120)布置在第一介电层(110)上并且部分地覆盖第一介电层(110),

其中半导体芯片(140)布置在载体(105)上在其中第一介电层(110)不被第二介电层(120)覆盖的安装区域(107)中,

并且其中载体(105)包括布置在第二介电层(120)上的用于电气接触的焊接端子(126)。

2.根据权利要求1所述的电子装置,

其中第二介电层(120)包括开口(121),借助于所述开口(121)来提供安装区域(107)。

3.根据前述权利要求中的任一项所述的电子装置,

其中载体(105)包括布置在第一介电层(110)上在安装区域(107)中的安装衬垫(116),并且其中半导体芯片(140)布置在安装衬垫(116)上。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的电子装置,

其中载体(105)包括金属基底层(112),在所述金属基底层(112)上布置第一介电层(110)。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的电子装置,

其中载体(105)包括布置在第二介电层(120)上的接触层(125)以及部分地覆盖接触层(125)的覆盖层(130),并且其中由接触层(125)的不被覆盖层(130)覆盖的区提供焊接端子(126)。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的电子装置,

其中载体(105)包括布置在第二介电层(120)上用于电气接触的另一焊接端子(126)。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的电子装置,

其中半导体芯片(140)是光电半导体芯片。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的电子装置,

其中电子装置包括布置在载体(105)上在安装区域(107)中的数个半导体芯片(140)。

9.一种用于产生根据前述权利要求中的任一项的电子装置(100)的方法,包括:

提供第一介电层(110);

提供第二介电层(120),其中第一介电层(110)的热导率超过第二介电层(120)的热导率;

将第二介电层(120)布置在第一介电层(110)上使得产生载体(105),其中载体(105)包括其中第一介电层(110)不被第二介电层(120)覆盖的安装区域(107);

提供布置在第二介电层(120)上的焊接端子(126);以及

将半导体芯片(140)布置在载体(105)上在安装区域(107)中。

10.根据权利要求9所述的方法,

进一步包括在第二介电层(120)中形成开口(121),借助于所述开口(121)来提供载体(105)的安装区域(107)。

11.根据权利要求9或10中的任一项所述的方法,

其中第一介电层(110)设有布置在第一介电层(110)上的金属层(114),其中将金属层(114)结构化使得提供布置在第一介电层(110)上的安装衬垫(116),并且其中将半导体芯片(140)布置在安装衬垫(116)上。

12.根据权利要求9至11中的任一项所述的方法,

其中第一介电层(110)设有金属基底层(112),在所述金属基底层(112)上布置第一介电层(110)。

13.根据权利要求9至12中的任一项所述的方法,

其中第二介电层(120)设有布置在第二介电层(120)上的金属层(124),其中将金属层(124)结构化使得提供布置在第二介电层(120)上的接触层(125),并且其中形成覆盖层(130),其部分地覆盖接触层(125)使得由接触层(125)的不被覆盖层(130)覆盖的区提供焊接端子(126)。

14.根据权利要求9至13中的任一项所述的方法,

其中提供布置在第二介电层(120)上的另一焊接端子(126)。

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