[发明专利]半导体装置和诊断测试方法

说明书

根据本发明的半导体装置(1)包括具有扫描链的待测试电路(2)以及通过使用扫描链执行待测试电路的扫描测试的第一测试控制装置(3)和第二测试控制装置(4)。第二测试控制装置(4)执行待测试电路(2)的第二扫描测试，待测试电路(2)向第一测试控制装置(3)提供指令，以在执行第二扫描测试之后执行第一扫描测试，并且第一测试控制装置(3)响应于来自待测试电路的指令(2)执行待测试电路(2)的第一扫描测试。

技术领域

本发明涉及半导体装置和诊断测试方法，并且特别地涉及一种用于执行待测试电路的扫描测试的技术。

背景技术

近年来，汽车越来越电气化和电子化，并且半导体装置不仅被用于窗户或灯具等的车身控制，还被用于直接影响乘客和行人安全的机构，例如，如刹车或转向的底盘控制、如当今的冲突回避的高级驾驶援助系统。对于这种半导体装置，其功能要求高度安全性。汽车功能安全标准ISO26262规定了根据其应用和社会环境提高安全性的必要性。

例如，一种已知的措施是将能够检测单点故障(SPF)和潜在故障(LF)的安全机构并入到半导体装置中，所述单点故障是由于单一故障引起的故障，所述潜在故障(LF)是由同时发生的多个故障引起的故障。换句话说，需要能够检测SPF和LF两者的具有增强的可靠性的半导体装置。

专利文献1公开了一种控制装置，其通过在两个处理器中执行相同的计算、通过比较器比较计算结果以确定计算结果是否匹配来诊断处理器是否正常。此外，该控制装置通过BIST(内建自测试)诊断比较器，进一步提高了可靠性。然而，如后面所述，该控制装置没有公开在不需要多个待测试电路的情况下用于检测SPF和LF两者的技术。

引用列表

专利文献

PTL1：日本未审查专利申请公开No.2008-267999

发明内容

技术问题

如上所述，存在以下问题：不存在在不需要多个待测试电路的情况下能够检测SPF和LF两者的、具有增强的可靠性的半导体装置。

本发明的其他问题和新颖特征将从说明书和附图的描述中变得显而易见。

问题的解决方案

根据一个实施例，在半导体装置中，在第二测试控制装置执行待测试电路的第二扫描测试之后，待测试电路向第一测试控制装置给出用于执行第一扫描测试的指令。

发明的有益效果

根据上述一个实施例，可以提供具有增强的可靠性的半导体装置。

附图说明

图1是示出根据实施例的半导体装置的示意性配置的框图。

图2是示出根据第一实施例的半导体装置的配置的框图。

图3是示出根据第一实施例的半导体装置的操作的框图。

图4是示出根据第一实施例的变形例的半导体装置的配置的框图。

图5是示出根据第二实施例的半导体装置的配置的框图。

图6是示出根据第三实施例的半导体装置的配置的框图。

图7是示出根据第三实施例的半导体装置的操作的框图。

图8是示出根据第四实施例的半导体装置的配置的框图。

图9是示出根据第四实施例的半导体装置的操作的框图。

图10是示出根据第五实施例的半导体装置的配置的框图。

图11是示出根据第六实施例的半导体装置的配置的框图。