[发明专利]半导体装置和诊断测试方法

权利要求书

1.一种半导体装置，所述半导体装置执行第一扫描测试和第二扫描测试，包括：

待测试电路，具有扫描链和用于提供用以执行所述第一扫描测试的指令的功能；和

第一测试控制装置和第二测试控制装置，通过使用所述扫描链分别执行所述待测试电路的所述第一扫描测试和所述第二扫描测试，其中

在所述半导体装置的启动时，所述第二测试控制装置通过使用测试模式来执行所述待测试电路的第二扫描测试，所述测试模式通过使用伪随机数生成，

在执行所述第二扫描测试以及完成所述半导体装置的所述启动后，所述待测试电路向所述第一测试控制装置提供用以执行所述第一扫描测试的指令，以及

所述第一测试控制装置响应于来自所述待测试电路的指令执行所述待测试电路的所述第一扫描测试。

2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中

在所述半导体装置的启动时，所述第二测试控制装置通过生成所述测试模式并将所述测试模式输入到所述扫描链中，来执行所述第二扫描测试，所述测试模式通过使用伪随机数生成，以及

在执行所述第二扫描测试以及完成所述半导体装置的所述启动之后，所述第一测试控制装置通过从连接到所述半导体装置的外部存储电路获取测试模式并将所获取的测试模式输入到所述扫描链中，来执行所述第一扫描测试。

3.根据权利要求2所述的半导体装置，还包括：

结果确定装置，所述结果确定装置通过使用第一预期值和第二预期值，确定通过所述第一扫描测试和所述第二扫描测试中的每一个扫描测试而从所述待测试电路获取的第一测试结果和第二测试结果。

4.根据权利要求1所述的半导体装置，还包括：

定时器，测量所述第一扫描测试和所述第二扫描测试中的每一个扫描测试的执行时间，并且当测量的所述执行时间超过指定的阈值时通知错误，其中

所述第一测试控制装置和所述第二测试控制装置中的每一个装置当发起所述待测试电路的所述第一扫描测试和所述第二扫描测试中的每一个扫描测试时向所述定时器提供指令以开始所述执行时间的测量，并且当所述待测试电路的所述第一扫描测试和所述第二扫描测试中的每一个扫描测试结束时向所述定时器提供指令以结束所述执行时间的测量。

5.根据权利要求3所述的半导体装置，还包括：

第一预期值存储单元，存储所述第一预期值，所述第一预期值是通过所述第一扫描测试从所述待测试电路获取的所述第一测试结果的预期值；

第二预期值存储单元，存储所述第二预期值，所述第二预期值是通过所述第二扫描测试从所述待测试电路获取的所述第二测试结果的预期值；

结果确定装置，

将通过所述第二扫描测试从所述待测试电路获取的所述第二测试结果与所述第二预期值进行比较，并且当它们匹配时确定结果是正常的，当它们不匹配时确定结果是错误的；以及

将通过所述第一扫描测试从所述待测试电路获取的所述第一测试结果与所述第一预期值进行比较，并且当它们匹配时确定结果是正常的，当它们不匹配时确定结果是错误的；和

系统控制电路，根据所述结果确定装置的确定结果来控制所述半导体装置，其中

所述系统控制电路使得所述结果确定装置在执行所述第二扫描测试之前将所述第二测试结果与和所述第二预期值不同的值进行比较，并且当确定所述值匹配时停止所述半导体装置的操作。

6.根据权利要求1所述的半导体装置，包括：

多个待测试电路；和

多个第二测试控制装置，执行所述多个待测试电路中的每一个待测试电路的所述第二扫描测试，其中

在所述半导体装置的启动时，所述多个第二测试控制装置中的每一个装置执行所述第二扫描测试，

在执行所述多个待测试电路中的每一个待测试电路的所述第二扫描测试以及完成所述半导体装置的所述启动之后，所述第一测试控制装置执行所述第一扫描测试，

所述半导体装置还包括：测试目标设定电路，存储测试目标值，所述测试目标值表示所述多个待测试电路中的每一个待测试电路是否是所述半导体装置的启动时的所述第二扫描测试的目标，以及

所述多个第二测试控制装置中的每一个装置根据所述测试目标值执行所述第二扫描测试。