[发明专利]用于校正能量依赖投影值的校正装置有效
| 申请号: | 201580072744.7 | 申请日: | 2015-12-24 |
| 公开(公告)号: | CN107111888B | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
| 发明(设计)人: | E·勒斯尔;I·M·布勒维;D·鲁宾;O·扎尔钦 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 蔡洪贵 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 校正 能量 依赖 投影 装置 | ||
1.一种用于校正能量依赖投影值的校正装置,所述校正装置包括:
投影值提供单元(13),所述投影值提供单元(13)用于提供能量依赖校准投影值以及用于提供能量依赖实际投影值,所述能量依赖校准投影值已在校准操作期间基于已穿过材料并且撞击在能量分辨检测器(6)上的辐射,针对a)所述辐射的强度已在所述校准操作中改变之后的不同时间、b)不同强度变化和c)不同材料和/或不同材料厚度而生成,并且所述能量依赖实际投影值已在实际扫描操作期间基于已穿过待成像物体并且撞击在所述能量分辨检测器(6)上的辐射,针对所述辐射的强度已在所述实际扫描操作中改变之后的不同时间而生成,
瞬态行为确定和校正单元(12),所述瞬态行为确定和校正单元(12)用于基于所述能量依赖校准投影值来确定表示所述能量分辨检测器(6)的瞬态行为的瞬态行为参数,并且用于基于所确定的所述能量分辨检测器(6)的所述瞬态行为参数来校正所述能量依赖实际投影值。
2.如权利要求1所述的校正装置,其中,所述瞬态行为确定和校正单元(12)适于基于所确定的所述能量分辨检测器(6)的所述瞬态行为参数来校正所述能量依赖校准投影值,所述瞬态行为确定和校正单元(12)提供用于通过将分解算法应用至能量依赖校准投影值来将所述能量依赖校准投影值分解成材料依赖校准投影值的分解功能,其中所述瞬态行为确定和校正单元(12)适于通过使用校正后的所述能量依赖校准投影值来校准所述分解算法。
3.如权利要求2所述的校正装置,其中,所述瞬态行为确定和校正单元(12)适于使用A-table方法作为分解算法。
4.如权利要求1所述的校正装置,其中,所述瞬态行为确定和校正单元(12)适于:
提供描述由能量分辨检测器(6)基于已撞击在所述能量分辨检测器(6)上并且已穿过材料的辐射生成的能量依赖校准投影值a)对所述辐射的强度已改变之后的时间、b)对所述强度的变化,和c)对不同材料和/或不同材料厚度的依赖性的模型,
将所提供的模型适配成与所述能量依赖校准投影值一致,以便确定所述瞬态行为参数。
5.如权利要求4所述的校正装置,其中,所述瞬态行为确定和校正单元(12)适于基于适配后的所述模型来校正所述能量依赖校准投影值,所述瞬态行为确定和校正单元(12)提供用于通过将分解算法应用至所述能量依赖校准投影值来将能量依赖校准投影值分解成材料依赖校准投影值的分解功能,所述瞬态行为确定和校正单元(12)适于通过使用校正后的能量依赖校准投影值来校准所述分解算法。
6.如权利要求5所述的校正装置,其中,所述瞬态行为确定和校正单元(12)适于:
将校准后的所述分解算法应用至所述能量依赖实际投影值,由此确定材料依赖实际投影值,所述材料依赖实际投影值限定在所述校准操作期间使用的一个或多个材料的厚度,并且
基于适配后的所述模型和确定的所述材料依赖实际投影值来校正所述能量依赖实际投影值。
7.如权利要求6所述的校正装置,其中,所述瞬态行为确定和校正单元(12)适于迭代地执行应用校准的所述分解算法和校正所述能量依赖实际投影值的步骤。
8.如权利要求1所述的校正装置,其中,所述瞬态行为确定和校正单元(12)适于:
随时间推移求所述能量依赖校准投影值的平均值,
提供用于通过将分解算法应用至所述能量依赖校准投影值来将所述能量依赖校准投影值分解成材料依赖校准投影值的分解功能,并且适于通过使用平均后的所述能量依赖校准投影值来校准所述分解算法,
通过将校准后的所述分解算法应用至所述能量依赖校准投影值来将所述能量依赖校准投影值分解成材料依赖校准投影值,并且
计算所述材料依赖校准投影值与用于生成所述能量依赖校准投影值的一个或多个材料的厚度之间的差,以便确定所述瞬态行为参数。
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